[发明专利]激光冷热金属检测器

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置，尤其涉及一种激光冷热金属检测器。

背景技术

冷热金属检测器广泛应用于工业控制生产流水线的现场，是一种利用可见激光技术检测物体的存在或者给物体精确定位的仪器。

冷热金属检测器一般由激光发射模块、激光接收处理模块和反馈输出模块三部分组成。激光发射模块包括激光驱动电路和半导体激光模块；激光接收模块包括光敏接收管和信号输出处理电路；反馈输出模块包括输出驱动电路和输出显示电路。冷热金属检测器通过激光发射模块连续发射激光信号，判断激光接收模块是否接收到发射的激光信号，从而控制是否输出反馈信号来检测物体的存在或是给物体定位。

传统的激光检测装置采用可见半导体激光器作光源，经调节器调制后发出一束准平行可见红色激光，激光经过反射被光敏管接收或是直射被光敏接收，信号经过放大处理后输出一个开关量反馈控制信号。由于传统的激光检测装置只是简单地对信号继续处理，它存在着以下缺陷：1、抗干扰能力差；2、测量精度不高；3、容易发生误动作。

发明内容

本发明的目的，就是为了克服以上现有技术存在的缺陷而提供一种抗干扰能力强、测量精度高、准确性好的激光冷热金属检测器。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：一种激光冷热金属检测器，包括微控制器、电源模块、调制驱动器、半导体激光模块、光敏接收器、滤波器、运算放大器、调制解调器和输出模块；电源模块与微控制器电连接向微控制器提供电源；调制驱动器的一个输出端连接微控制器的一个输入端，调制驱动器的另一个输出端连接半导体激光模块的输入端；光敏接收器设置在半导体激光模块的激光发射光路上用于接收带调制信号的可见激光，光敏接收器的输出端连接滤波器的输入端；滤波器的输出端连接运算放大器的输入端；运算放大器的输出端连接调制解调器输入端；调制解调器的输出端连接微控制器的另一输入端；输出模块的输入端连接微控制器的另一输出端；输出模块采用LED显示输出或开关模拟量输出。

所述的微控制器选用microchip公司的PIC16F71或PIC16C712。

所述的调制解调器选用LM567。

所述的半导体激光模块选用Sigma激光模块。

所述的光敏接收器选用PIN-07FSLR。

所述的运算放大器选用LM6082或LM6084。

所述的微控制器内设有模拟量信号采集模块和A/D信号转换模块，微控制器对两路输入信号进行处理判断，确定是否向输出模块输出显示信号或驱动信号，输出模块接收到显示信号后，采用LED显示输出；输出模块接收到驱动信号后，采用开关模拟量输出。

本发明一种激光冷热金属检测器由于采用了以上技术方案，具有抗干扰能力强、响应速度快、测量精度高的优点；适合在极其恶劣的环境下使用，而且可以彻底消除误动作。

附图说明

图1为本发明激光冷热金属检测器的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步说明。

参见图1，本发明一种激光冷热金属检测器，包括微控制器1、电源模块2、调制驱动器3、半导体激光模块4、光敏接收器5、滤波器6、运算放大器7、调制解调器8和输出模块9。电源模块2与微控制器1电连接向微控制器提供电源；调制驱动器3的一个输出端连接微控制器1的一个输入端，调制驱动器3的另一个输出端连接半导体激光模块4的输入端。光敏接收器5设置在半导体激光模块4的激光发射光路上用于接收带调制信号的可见红外激光，光敏接收器5的输出端连接滤波器6的输入端。滤波器6的输出端连接运算放大器7的输入端。运算放大器7的输出端连接调制解调器8的输入端，调制解调器8的输出端连接微控制器1的另一输入端。输出模块9的输入端连接微控制器1的另一输出端，输出模块采用LED显示输出或开关模拟量输出。

上述微控制器1选用microchip公司的PIC16F71或PIC16C712；调制解调器选用LM567；半导体激光模块选用Sigma激光模块；光敏接收器选用PIN-07FSLR；运算放大器选用LM6082或LM6084。