[发明专利]热变形检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量仪器，尤其是涉及一种热变形检测仪。

背景技术

热变形检测仪是一种用于测量高分子材料或聚合物热变形量的测量仪器，热变形检测是对高分子材料或聚合物施加一定的负荷，在规定的温度下保持一定的时间所导致的变形量，是衡量聚合物或高分子材料耐热性优劣的一种测量方法。

现有的热变形检测仪包括烘箱、烘箱外部设置的百分表及烘箱内部设置的试样架，测量时，将试样放置于试样架内通过百分表，测出试样的变形量，具有结构简单，使用方便的优点，但是，由于百分表位于试样架的一侧，试样变形后可能会发生各个方向的倾斜，将严重影响试验数据的准确性；同时由于百分表自身存在的重量，可能会影响试样在一定负荷下变形的情况，从而导致测量数据波动比较大；由于烘箱的通气孔一般位于烘箱上部的中央位置，百分表需通过烘箱的通气孔与烘箱内部的试样架连接，由于百分表位于试样架的一侧，因此试样架内的试样位于烘箱的边缘部位，导致试样在烘箱内受热不均匀，同样会影响测量数据的准确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可避免由于试样变形倾斜、百分表自身重量及试样在烘箱内部受热不均匀导致的测量偏差，从而提高测量结果准确性的热变形检测仪。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种热变形检测仪，包括烘箱，所述的烘箱内部设置有试样架，所述的试样架包括上板、下板及水平设置于上板与下板之间的负荷压板，所述的试样架四周设置有用于固定连接上板与下板的导柱，所述的导柱垂直穿过所述的负荷压板，所述的负荷压板的上表面中央垂直设置有负荷压杆，所述的负荷压杆穿过所述的上板与试样架外部设置的承重盘连接，所述的负荷压板与所述的下板之间的导柱上设置有位移测量装置。

所述的位移测量装置为游标。

所述的位移测量装置为位移传感器，所述的烘箱外设置有位移传感器显示界面，所述的位移传感器显示界面通过连接杆与所述的承重盘连接，所述的连接杆穿过烘箱上部中央设置的通气孔。

所述的烘箱外设置有百分表，所述的百分表通过变形量传递杆与所述的承重盘中心连接，所述的变形量传递杆穿过烘箱上部中央设置的通气孔。

所述的负荷压板可沿所述的导柱上下移动。

与现有技术相比，本发明的优点在于：由于试样架包括上板、下板及水平设置于上板与下板之间的负荷压板，试样架四周设置有用于固定连接上板与下板的导柱，导柱垂直穿过负荷压板，负荷压板的上表面中央垂直设置有负荷压杆，负荷压杆穿过上板与试样架外部设置的承重盘连接，负荷压板与下板之间的导柱上设置有位移测量装置，可将试样置于试样架内负荷压板的正下方，在承重盘上放置一定负荷的砝码，控制烘箱的温度，通过导柱上的位移测量装置，测出试样变形前后尺寸的变化量，可避免由于试样变形倾斜、百分表自身重量及试样在烘箱内部受热不均导致的测量偏差，保证测量结果的准确性，具有成本低、准确度高、可靠性好的优点。

附图说明

图1为本发明实施例1的热变形检测仪；

图2为本发明实施例2的热变形检测仪；

图3为本发明实施例3的热变形检测仪。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。

实施例1

如图1所示，一种热变形检测仪，包括烘箱(1)，烘箱(1)内部设置有试样架(2)，试样架包括上板(3)、下板(4)及水平设置于上板(3)与下板(4)之间的负荷压板(5)，试样架(2)四角设置有用于固定上板(3)和下板(4)的导柱6，导柱(6)垂直穿过负荷压板(5)，负荷压板(5)可沿导柱(6)上下移动，负荷压板(5)上表面中央垂直设置有负荷压杆(7)，负荷压杆(7)穿过上板(3)与试样架外部设置的承重盘(8)连接，负荷压板(5)与下板(4)之间的导柱(6)上设置有位移测量装置(9)即游标。

试验步骤：

1)在天平上称量负荷压板、负荷压杆、承重盘的总重量，选取合适的砝码。

试样承受的总负荷为P，砝码重量的计算公式如下：

W＝P-R

式中W——砝码重量，kg；

R——负荷压板、负荷压杆、称重盘的总重量，kg

2)检查热变形仪的负荷压板，使其能上下自由移动。

3)烘箱升温至127±1℃，恒温半小时。

4)按规定要求放置鲍尔环试样，使其中心置于负荷压板中心。

5)放入试样后，记录游标初始位置，在15s内完成。

6)试样在烘箱中保持16h，取出试样后，记录游标最终位置。