[发明专利]改变焦距的镜筒以及装配有该镜筒的摄像设备无效
| 申请号: | 201010206142.5 | 申请日: | 2010-06-21 |
| 公开(公告)号: | CN101930110A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
| 发明(设计)人: | 石政彻 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G02B7/10 | 分类号: | G02B7/10;G03B17/04 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 改变 焦距 以及 装配 摄像 设备 | ||
1.一种镜筒,所述镜筒通过使第一透镜组和第二透镜组中的至少一方在光轴方向上移动来改变焦距,并且能在拍摄状态下增加镜筒长度和在缩回状态下减小镜筒长度,所述镜筒包括:
第一保持架,其适于保持所述第一透镜组;
第二保持架,其适于保持所述第二透镜组;
光量调整构件,其适于通过改变开口的直径来调整透过光学系统的光量,所述光量调整构件位于所述第一透镜组和所述第二透镜组之间;
第三保持架,其适于保持所述光量调整构件;以及
凸轮机构,其适于使所述第一保持架、所述第二保持架和所述第三保持架在所述光轴方向上移动,使得在所述缩回状态下将所述第二透镜组的一部分插入到所述光量调整构件的所述开口中并且所述第一透镜组和所述第二透镜组的彼此相面对的凹面和凸面在所述光轴方向上重叠,
其中,当从所述拍摄状态向所述缩回状态切换时,所述光量调整构件的所述开口的直径增大并且所述第一保持架、所述第二保持架和所述第三保持架在所述光轴方向上移动。
2.根据权利要求1所述的镜筒,其特征在于,在所述缩回状态下,所述光量调整构件被切换至超打开状态,在该超打开状态,所述开口打开得比所述拍摄状态下的最大开口大。
3.根据权利要求2所述的镜筒,其特征在于,所述光量调整构件具有用于改变所述开口的直径的多个叶片、和用于检测所述多个叶片在所述超打开状态下的位置的位置检测传感器。
4.根据权利要求1所述的镜筒,除了所述光量调整构件之外,所述镜筒还包括适于由所述第二保持架保持的光量改变构件,
其中,在所述缩回状态下所述光量调整构件和所述光量改变构件之间的距离比在所述拍摄状态下所述光量调整构件和所述光量改变构件之间的距离小。
5.根据权利要求4所述的镜筒,其特征在于,所述光量改变构件具有能够开闭的多个叶片,在所述缩回状态下,所述多个叶片被完全闭合。
6.根据权利要求4所述的镜筒,其特征在于,所述光量改变构件隔着所述第二透镜组被配置在所述光量调整构件所在侧的相反侧。
7.一种摄像设备,所述摄像设备包括:
镜筒,所述镜筒适于通过使第一透镜组和第二透镜组中的至少一方在光轴方向上移动来改变焦距,并且适于在拍摄状态下增加镜筒长度和在缩回状态下减小镜筒长度,所述镜筒包括:
第一保持架,其适于保持所述第一透镜组;
第二保持架,其适于保持所述第二透镜组;
光量调整构件,其适于通过改变开口的直径来调整透过光学系统的光量,所述光量调整构件位于所述第一透镜组和所述第二透镜组之间;
第三保持架,其适于保持所述光量调整构件;和
凸轮机构,其适于使所述第一保持架、所述第二保持架和所述第三保持架在所述光轴方向上移动,使得在所述缩回状态下将所述第二透镜组的一部分插入到所述光量调整构件的所述开口中并且所述第一透镜组和所述第二透镜组的彼此相面对的凹面和凸面在所述光轴方向上重叠,以及
控制单元,其适于在从所述拍摄状态向所述缩回状态切换时控制所述光量调整构件以增大所述开口的直径,并且控制所述凸轮机构以使所述第一保持架、所述第二保持架和所述第三保持架在所述光轴方向上移动。
8.根据权利要求7所述的摄像设备,其特征在于,在所述缩回状态下,所述光量调整构件被切换至超打开状态,在该超打开状态,所述开口打开得比所述拍摄状态下的最大开口大。
9.根据权利要求8所述的摄像设备,其特征在于,所述光量调整构件具有用于改变所述开口的直径的多个叶片、和用于检测所述多个叶片在所述超打开状态下的位置的位置检测传感器,
其中,当所述位置检测传感器检测到所述多个叶片在所述超打开状态下的位置时,所述控制单元允许将所述镜筒切换至所述缩回状态。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010206142.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:压印模具分离装置
- 下一篇:测量信号传输结构的频率相关电容的方法及其电路





