[发明专利]一种退火剥离倒装SiC衬底GaN基LED的制作方法有效
申请号: | 201010206127.0 | 申请日: | 2010-06-23 |
公开(公告)号: | CN101908587A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 吴德华;朱学亮;杨鑫沼;曲爽;李树强;王成新;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东华光光电子有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
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地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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搜索关键词: | 一种 退火 剥离 倒装 sic 衬底 gan led 制作方法 | ||
1.一种退火剥离倒装SiC衬底GaN基LED的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)制作原始SiC图形衬底
在原始SiC衬底上蒸镀一层厚度为的SiO2作为掩膜,在SiO2掩膜上涂上光刻胶,在光刻胶上覆上预先刻制的图形掩膜版,将被图形掩膜版保护以外的地方曝光,利用光刻机刻出所需要的掩膜图形;然后放入质量浓度0.5%-5%的氢氧化钠溶液中10秒-60秒显影,经过光刻曝光的地方显影时光刻胶会脱掉,露出掩膜图形以外的纵横交错分布的SiO2掩膜,用HF酸腐蚀掉露出的SiO2掩膜,使这些地方暴露出SiC衬底;然后用丙酮腐蚀掉掩膜图形上面的光刻胶,露出下面的SiO2掩膜,利用掩膜图形下面露出的SiO2掩膜,通过感应耦合等离子体刻蚀工艺,在暴露出SiC衬底的地方刻出2um-4um深的凹面,这样就在原始SiC衬底表面刻蚀出纵横交错的沟道;刻蚀完毕后,放入HF酸1分钟-3分钟腐蚀掉掩膜图形下面露出的SiO2掩膜,这时候衬底上就露出一个个小方柱,这就是制作的原始SiC图形衬底;
(2)生长外延片
在做好的原始SiC图形衬底上按常规方法生长常规结构的外延片,常规结构的外延片自下至上包括衬底、AlN缓冲层、N型GaN层、多量子阱层和P型GaN层;
(3)制作倒装外延片
在生长的外延片上表面P型GaN层上镀一层反光金属Al或Au或Ag,利用衬底键合机将Al、Au或Ag反光金属层键合在一个新的SiC或者Si衬底上;
(4)去掉原始衬底
将键合后的外延片放入到高温退火炉中,在5分钟-30分钟内使温度升到500℃-800℃,然后保温5分钟-15分钟,取出后立即放入水温15℃-30℃度的水浴槽中0.5分钟-2分钟,然后拿出立即放入另外一个水温为0℃-15℃的水浴槽中2分钟-5分钟,此时外延片上的原始衬底已经脱落。
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