[发明专利]一种防止电磁干扰的测试装置及测试机台

权利要求书

1.一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其包含：

一测试区，在该测试区上形成有一个测试空间的上罩体，该上罩体的一侧具有一可供待测电子组件进出的开口，相对于该开口设有一个在该待测电子组件移动时的开启位置至测试该待测电子组件时的闭合位置两者间动作的移动装置；

一输送装置，设有一个供该待测电子组件插置的测试座，并在测试空间内部以及测试空间外部来回运行；

在该移动装置动作至开启位置时，该待测电子组件由该输送装置在测试空间内部以及测试空间外部来回运行，在该移动装置动作至闭合位置时，该待测电子组件位于测试空间内，测试区呈现密合状态。

2.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该测试区内设有一下压机构，用于在该待测电子组件位于测试空间内、该移动装置动作至闭合位置时，对该待测电子组件压抵。

3.如权利要求2所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该下压机构由一驱动装置带动，而该下压机构对准该待测电子组件位置设有一下压治具，该下压治具由该下压机构带动作升降位移，用于压抵该待测电子组件执行测试作业。

4.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中，于该输送装置在测试空间内部以及测试空间外部来回运行的路径上设置一输送轨道。

5.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该移动装置受一压缸驱动升降位移，在开口的开启位置以及闭合位置两者间动作。

6.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该移动装置受一电子信号控制，在开口的开启位置以及闭合位置两者间动作。

7.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该上罩体及该移动装置为一金属材料所制成。

8.如权利要求1所述的一种防止电磁干扰的测试装置，其特征在于，其中该上罩体及该移动装置的阻隔射频电磁波以涂布导电镀层方式涂覆。

9.一种防止电磁干扰的测试机台，其特征在于，其包含：

一进料区，用于提供摆放具有多个待测电子组件的载盘；

一出料区，用于提供摆放具有多个完测电子组件的载盘；

一组拾取臂，用于搬移待测电子组件于进料区的载盘、出料区的载盘及测试区间；

多个测试区，各个测试区上形成有一个测试空间的上罩体，该上罩体的一侧具有一可供该待测电子组件进出的开口，相对于该开口设有一个在该待测电子组件移动时的开启位置至测试该待测电子组件时的闭合位置两者间动作的移动装置；

多个输送装置，各个输送装置设有一个供该待测电子组件插置的测试座，并在测试空间内部以及测试空间外部来回运行；

拾取臂搬移该待测电子组件由进料区的载盘至测试区时，由具有测试座的输送装置承接，当移动装置动作至开启位置时，该待测电子组件由输送装置送至测试空间内部，在移动装置动作至闭合位置时，该待测电子组件位于测试空间进行测试，且该完测电子组件由输送装置送至测试空间外部，拾取臂搬移完测电子组件并分类于出料区的载盘。

10.如权利要求9所述的一种防止电磁干扰的测试机台，其特征在于，其中该测试区内设有一下压机构，用于在该待测电子组件位于测试空间内、该移动装置动作至闭合位置时，对该待测电子组件压抵。

11.如权利要求10所述的一种防止电磁干扰的测试机台，其特征在于，其中该下压机构由一驱动装置带动，而该下压机构对准该待测电子组件位置设有一下压治具，该下压治具由该下压机构带动作升降位移，用于压抵待测电子组件执行测试作业。

12.如权利要求9所述的一种防止电磁干扰的测试机台，其特征在于，其中，于该输送装置在测试空间内部以及测试空间外部来回运行的路径上设置一输送轨道。

13.如权利要求9所述的一种防止电磁干扰的测试机台，其特征在于，其中该移动装置受一压缸驱动升降位移，在开口的开启位置以及闭合位置两者间动作。

14.如权利要求9所述的一种防止电磁干扰的测试台，其特征在于，其中该移动装置受一电子信号控制，在开口的开启位置以及闭合位置两者间动作。