[发明专利]一种纳米硅薄膜电致发光显示单元无效

专利信息
申请号: 201010202334.9 申请日: 2010-06-17
公开(公告)号: CN101872777A 公开(公告)日: 2010-10-27
发明(设计)人: 丁建宁;郭立强;程广贵;袁宁一 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/34;H01L33/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 212013 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 薄膜 电致发光 显示 单元
【权利要求书】:

1.一种纳米硅薄膜电致发光显示单元,从上至下由背电极层、N型层纳米硅薄膜、本征层纳米硅薄膜、P型层纳米硅薄膜和透明电极层组成,其中背电极层为Al电极,接正极,透明电极层为ITO薄膜,接负极。

2.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:N型层纳米硅薄膜的膜厚为70~90nm,本征层纳米硅薄膜的膜厚为490~510nm,P型层纳米硅薄膜的膜厚为30~50nm。

3.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:纳米硅薄膜电致发光显示单元,Al电极的厚度为300nm。

4.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:本征层纳米硅薄膜采用PECVD方法制备,其中所用硅烷的稀释比([SiH4]/[SiH4+H2])是5%。

5.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:P型纳米硅薄膜利用PECVD方法和硼的掺杂制备,硼烷与硅烷的体积流量比在1∶20~1∶5;所用硅烷的稀释比([SiH4]/[SiH4+H2])是5%,硼烷的稀释比([B2H6]/[B2H6+H2])是0.5%。

6.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:N型纳米硅薄膜利用PECVD方法和磷的掺杂来制备,磷烷与硅烷的流量比在体积1∶20~4∶25;其中所用硅烷的稀释比([SiH4]/[SiH4+H2])是5%,磷烷的稀释比([PH3]/[PH3+H2])是0.5%。

7.权利要求1所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:P型层纳米硅薄膜与本征层纳米硅薄膜的界面之间和本征层纳米硅薄膜/N型纳米硅薄膜界面之间进行氢钝化处理,具体为:每层薄膜沉积结束后,通氢气15分钟。

8.权利要求4、5或6所述的纳米硅薄膜电致发光显示单元,其特征在于:N型层纳米硅薄膜、本征层纳米硅薄或P型层纳米硅薄膜制备时,采用RF+DC双重功率源作用,沉积压力为140Pa,功率为280~330W,直流电压为200~220V,衬底温度为250~280℃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏大学,未经江苏大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010202334.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top