[发明专利]会议设备检测方法、装置和系统无效

专利信息
申请号: 201010201659.5 申请日: 2010-06-09
公开(公告)号: CN101860462A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 黄志宏 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04L12/24;H04L12/18;H04L29/06
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 会议设备 检测 方法 装置 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及通讯技术领域,尤其涉及会议设备检测方法、装置和系统。

背景技术

会议系统中包括语音会议设备或图像会议设备,例如会议中发言用的数字化麦克风阵列或者可进行图像输入/输出的图像处理会议设备等。随着科学技术的不断发展,现有的语音会议设备或图像会议设备,大都设有GPIO(General Purpose Input Output,通用输入/输出)端口,可通过GPIO端口输入或输出音频信号,利用按键实现开、关等操作。会议中,对于会议设备的使用者而言,希望会议设备操作容易并且智能化,通过简单按键动作即可实现音频或视频的输入/输出功能。但要实现会议设备智能化,需要添加更多的软/硬件结构,因而使得会议设备结构复杂而且体积庞大,维护起来较为困难,例如当要检测麦克风阵列中的某个麦克风的工作状态时,需要通过对复杂的线路进行检测,维护起来比较困难。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种会议设备检测方法、装置或系统,旨在实现简化会议设备结构,提高会议设备维护便利性。

本发明提供一种会议设备检测方法,包括以下步骤:

设置按键被按下的时长阈值;

记录按键的被按时长;

当被按时长大于或等于时长阈值时,反馈会议设备的当前状态,所述当前状态包括会议设备的IP地址或工作状态。

优选地,所述记录按键的被按时长的步骤中包括:

判断按键是否处于按下状态;

当按键处于按下状态时,根据按键的连续被按时长累加预置的静态变量的值;当处于松开状态时,将所述静态变量的值清零。

优选地,所述如果按键处于按下状态,则获取按键的连续被按时长在执行所述判断按键是否处于按下状态的步骤中包括:

设置按键的检测时间周期;

根据时间周期启动循环检测任务,对按键状态进行检测。

优选地,所述当被按时长大于或等于时长阈值时,反馈会议设备的当前状态的步骤中包括:

判断静态变量所记录的被按时长是否大于或等于所述时长阈值;

当按键被按时长大于或等于所述时长阈值时,反馈会议设备的当前状态;

当按键被按时长小于所述时长阈值,将静态变量的值归零。

优选地,所述会议设备包括图像处理会议设备或拾音会议设备。

本发明提供一种会议设备检测装置,包括:

预置单元,用于设置按键被按下的时长阈值;

时长记录单元,用于记录按键的被按时长;

状态反馈单元,用于当被按时长大于或等于时长阈值时,反馈会议设备的当前状态,所述当前状态包括会议设备的IP地址或工作状态。

优选地,所述时长记录单元包括:

判断模块,用于判断按键是否处于按下状态;

变量处理模块,用于当按键处于按下状态时根据按键的连续被按时长累加预置的静态变量的值;以及当处于松开状态时,将所述静态变量的值清零。

优选地,所述判断模块包括:

时间设置子块,用于设置按键的检测时间周期;

任务启动子块,用于根据时间周期启动循环检测任务,对按键状态进行检测。

优选地,所述状态反馈单元包括:

时长判断模块,用于判断所记录的被按时长是否大于或等于所述时长阈值;

状态处理模块,状态处理模块,用于当按键被按时长大于或等于所述时长阈值时,反馈会议设备的当前状态;以及当按键被按时长小于所述时长阈值,将静态变量的值归零。

本发明提供一种会议系统,包括会议设备及与会议设备相连的会议设备检测装置,所述会议设备设有按键,所述会议设备检测装置包括:

预置单元,用于设置所述会议设备的按键被按下的时长阈值;

时长记录单元,用于记录所述按键的被按时长;

状态反馈单元,用于当所述按键的被按时长大于或等于时长阈值时,反馈会议设备的当前状态,所述当前状态包括会议设备的IP地址或工作状态。

本发明所提供的会议设备检测方法、装置或系统,通过获取按键时长,在按键时长达到阈值时反馈会议设备的IP地址或工作状态,简化了会议设备结构,提高了会议设备维护的便利性;并且,提高了会议设备之间进行交互的便利性。

附图说明

图1为本发明的一个实施方式中会议设备检测方法流程图;

图2为本发明的一个实施例中记录按键的被按时长步骤的流程图;

图3为本发明的一个实施方式中会议设备检测装置的结构示意图;

图4为本发明的一个实施例中会议设备检测装置的结构示意图。

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