[发明专利]一种压电晶片振动模态的测试方法

权利要求书

1.一种压电晶片振动模态的测试方法，其包括以下步骤：

1)设置一包括函数发生器、功率放大器、红外热像仪和计算机的测试装置；将压电晶片试件放置在所述功率放大器的输出端，将红外热像仪正对压电晶片试件的一个侧面，将此侧面作为测量面；

2)开启函数发生器，调节函数发生器的频率f，并通过功率放大器产生电压恒定的连续正弦波，对压电晶片试件进行激励，使压电晶片试件产生振动；

3)用红外热像仪对压电晶片试件的测量面进行连续拍摄，将拍摄得到的红外图像进行存储和数据处理后，输送给计算机，通过计算机显示不同激励频率下压电晶片试件振动情况的红外图像；

4)根据显示的红外图像，分别选取在不同激励频率f激励下，压电晶片试件在同一时刻后红外图像中的最高温度T₀，进而画出一条温度与频率的T₀-f关系曲线，所述T₀-f关系曲线中的每个温度峰值对应一个振动模态，每个振动模态所对应的频率便是这个振动模态的谐振频率；

5)选择步骤4)得到的若干谐振频率对压电晶片试件测量面的同类面以外的其它侧面再次进行激励并进行连续拍摄，对得到红外图像进行存储和数据处理后，输送给计算机，通过计算机观测压电晶片试件的温度变化，并进一步测得压电晶片试件各个振动模态的分布形态。

2.如权利要求1所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述步骤2)中作用于压电晶片试件的激励电压为180～200Vpp。

3.如权利要求1所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述步骤4)中，选取在不同激励频率f激励下，压电晶片试件在同一时刻后红外图像中的最高温度T₀，其中，所述同一时刻的间隔为10秒。

4.如权利要求2所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述步骤4)中，选取在不同激励频率f激励下，压电晶片试件在同一时刻后红外图像中的最高温度T₀，其中，所述同一时刻的间隔为10秒。

5.如权利要求1或2或3或4所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述压电晶片试件为长方体，所述测量面的同类面以外的其它侧面是指测量面的左、右相邻面之一和上、下相邻面之一。

6.如权利要求1或2或3或4所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述压电晶片试件为圆柱体，所述测量面选择圆形面，所述测量面的同类面以外的其它侧面是指测量面以外的任何一个立面。

7.如权利要求1或2或3或4所述的一种压电晶片振动模态的测试方法，其特征在于：所述压电晶片试件为圆环体，所述测量面选择圆环面，所述测量面的同类面以外的其它侧面是指测量面以外的任何一个立面。