[发明专利]模拟磁共振成像信号的方法和系统无效

专利信息
申请号: 201010192721.9 申请日: 2010-05-31
公开(公告)号: CN102258369A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 张仕刚;张锐;周海燕;谢睿克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/54
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 模拟 磁共振 成像 信号 方法 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及磁共振成像(MRI)技术领域,特别是一种模拟磁共振成像信号的方法和一种模拟磁共振成像信号的系统。

背景技术

在开发磁共振成像所用序列的过程中,需要对新开发的序列进行测试。通常开发人员在真实的磁共振成像设备上使用新的序列对扫描对象(志愿者或者体模(phantom))进行多次扫描,才能完成对新序列的测试。由于每次扫描需要几分钟至几十分钟,那么上述测试过程由于需要多次扫描会耗费大量时间。另外,在真实的磁共振成像设备上进行多次扫描还会导致居高不下的成本。

在美国专利申请US 20100004909A1中,公开了用于模拟扫描对象的磁共振图像的方法和系统。然而,US 20100004909A1并没有具体描述如何实现模拟,并且该专利申请中将扫描对象作为一个解剖学上的整体,不能完全区分扫描对象的内部结构(例如,脑白质和灰质),从而不能完全模拟磁共振成像的结果,也不能真实地反映扫描对象的结构。

发明内容

有鉴于此,本发明提出了一种模拟磁共振成像信号的方法,用以真实地反映扫描对象的结构。本发明还要提出一种模拟磁共振成像信号的系统。

因此,本发明提供了一种模拟磁共振成像信号的方法,该方法包括:

按照扫描对象提供一个点阵列,阵列中的每个点包括复数个对磁共振敏感的粒子;

设置每个点的统计属性;

根据每个点的统计属性以及所要施加的磁共振成像序列,计算得到磁共振成像原始数据。

在上述方案中,设置统计属性的步骤包括:设置每个点的纵向弛豫时间和横向弛豫时间。

在上述方案中,该方法还根据扫描对象,设置每个点的粒子密度。

该方法还包括:设置每个点中所述粒子的旋磁比。

该方法还包括:根据所述原始数据重建得到磁共振图像。

本发明还提供了一种模拟磁共振成像信号的系统,包括:

一个点阵列单元,用于按照扫描对象提供一个点阵列,阵列中的每个点包括复数个对磁共振敏感的粒子;

一个设置单元,用于设置所述点阵列中每个点的统计属性;

一个计算单元,用于根据每个点的统计属性以及所要施加的磁共振成像序列,计算得到磁共振成像原始数据。

所述设置单元包括:一个第一设置子单元,用于设置每个点的纵向弛豫时间和横向弛豫时间。

所述设置单元还包括:一个第二设置子单元,用于根据扫描对象,设置每个点的粒子密度;和/或,一个第三设置子单元,用于设置每个点中所述粒子的旋磁比。

该系统还包括一个重建单元,用于根据所述原始数据重建得到磁共振图像。

从上述方案中可以看出,由于本发明考虑了每个点的统计属性,从而在不使用真实的MRI设备的情况下能够区分待扫描对象的各个组成部分,真实地反映扫描对象的结构。另外,由于本发明避免了使用真实的MRI设备进行多次扫描,所以节省了时间和费用。

附图说明

图1为根据本发明的系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,以下举实施例对本发明进一步详细说明。

每个对磁共振敏感的粒子(例如氢原子核)在磁场中具有独特的属性。粒子的磁化强度可以描述为一个矢量(Mx,My,Mz),在施加主磁场(B0场)时,粒子的磁化强度趋于沿着B0场方向(Z轴方向)排列。当施加射频(RF)场B1时,粒子的磁化强度偏离Z轴,随后绕着Z轴进动。上述磁化强度偏离Z轴的过程可以描述为旋转,如公式(1)所示。

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