[发明专利]可控硅失效检测与保护方法及其装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及家用电器，尤其涉及家用电器的控制器件可控硅的失效检测与安全保护方法及其装置。

【背景技术】

可控硅作为电器最常用的电子控制器件，广泛应用于马达调速、电热丝调温等控制场合，与CPU一起构成是家电控制的核心部件。可控硅作为关键执行部件，一旦开短路，将造成电热设备温度失控、马达失速，对设备的安全使用直接构成了危险，温度失控的后果将可能导致火灾，马达转速失控将可能造成意外的突然启动或转速“飞车”，导致用户意外受伤。现有电器控制技术大都采用感温器件或马达测速机构(如：霍耳元件、光电开关)等来检测负载工作是否异常，虽然可以起到最后一道的安全保险防护作用，但其智能化较低，用户无法知晓到底是哪一部分出了问题，不能提示故障的准确发生部位，维修因而较为费事。

因此，现有技术需要改进和提高。

【发明内容】

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种可控硅失效检测与保护方法及其装置，准确判断出故障发生元件是否为可控硅，并通过显示装置显示故障信息，以方便维修，提高产品智能化程度。

本发明提供了一种可控硅失效检测与保护方法，包括以下步骤：中央处理器对可控硅的输出变化标记位进行检测；所述中央处理器的模数转换口对所述可控硅进行检测；所述模数转换口检测所述可控硅的电压；中央处理器检测电源过零信号是否发生跳变；当所述可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直小于0.5V或者一直大于4.8V时，对所述可控硅做开路标记；当所述可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直处于2.5V至4.0V之间时，对所述可控硅做短路标记；判断所述可控硅的状态是否与要求的工作状态相同；若不相同，所述中央处理器对所述可控硅运行可控硅保护程序切断马达供电继电器RY1的供电，并显示异常；若相同，则结束本次检测，继续下一次同样的检测循环。

作为本发明的进一步改进，当所述可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直小于0.5V或者一直大于4.8V时，对所述可控硅做开路标记；当所述可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直处于2.5V至4.0V之间时，对所述可控硅做短路标记包括以下步骤：在过零信号发生跳变后，所述中央处理器判断所述可控硅的电压是否一直小于0.5V；若是，则对所述可控硅进行开路标记；若否，则判断在过零信号发生跳变后所述可控硅的电压是否一直处于2.5V至4.0V之间；若所述可控硅的电压一直处于2.5V至4.0V之间，则对所述可控硅做短路标记；若在过零信号发生跳变后，所述可控硅的电压不处于2.5V至4.0V之间，则判断可控硅的电压是否大于4.8V；若在过零信号发生跳变后，所述可控硅的电压一直大于4.8V，则对所述可控硅进行开路标记；若否，则结束本次检测，继续下一次同样的检测循环。

作为本发明的进一步改进，在过零信号发生跳变后，所述可控硅的电压一直处于0.5V至2.5V之间以及一直处于4.0V至4.8V之间时，结束检测，电路失效，判为可控硅开短路故障。

作为本发明的进一步改进，所述可控硅的电压，为所述中央处理器的模数转换口与所述可控硅的节点处的电压。

作为本发明的进一步改进，还包括所述中央处理器过零检测脚检测所述可控硅正负半周高低电平跳变后，设置可控硅输出变化标记位＝1这一过程。

作为本发明的进一步改进，中央处理器对可控硅的输出变化标记位进行检测包括以下步骤：所述中央处理器的过零检测脚检测所述可控硅输出变化标记位是否等于1；若不等于1，则所述中央处理器的模数转换口不对所述可控硅进行检测；若等于1，则进行延时计数，延时计数结束后，中央处理器的模数转换口对所述可控硅进行检测。

作为本发明的进一步改进，若等于1，则进行延时计数，延时计数结束后，中央处理器的模数转换口对所述可控硅进行检测还包括以下步骤：判断延时是否大于500US；若不大于500US，则重复设置可控硅输出变化标记位＝1这一步骤；若大于500US，则将所述可控硅输出变化标记位清零，中央处理器的模数转换口对所述可控硅进行检测。