[发明专利]双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪有效

专利信息
申请号: 201010186908.8 申请日: 2010-05-31
公开(公告)号: CN101846492A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: 苑立波;关春颖;杨军 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G02B6/26;G02B6/024;G02B6/255
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: mach zehnder 组合 干涉仪
【权利要求书】:

1.一种双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,由两个光纤F-P干涉仪和光纤Mach-Zehnder干涉仪组合而成;其特征是:所述的Mach-Zehnder干涉仪由单芯保偏光纤和熔嵌式双芯保偏光纤的两端分别进行熔接耦合而构成;所述的两个光纤F-P干涉仪是在熔嵌式双芯保偏光纤的两个纤芯上分别刻写双Bragg光纤光栅对构成的双F-P腔;每个F-P腔分别嵌于Mach-Zehnder干涉仪的两臂。

2.根据权利要求1所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:所述的熔嵌式双芯保偏光纤是具有光敏性的中心为空气孔,两个纤芯对称的部分悬挂于空气孔中、部分嵌入包层中的双芯光纤,两个纤芯呈椭圆形,两个纤芯具有相同的偏振主轴方向。

3.根据权利要求2所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:两个光纤F-P干涉仪是由四个具有相同反射中心波长的两组Bragg光纤光栅对构成。

4.根据权利要求3所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:同一F-P腔中的光纤光栅对的光纤光栅的反射率相同,不同的F-P腔中的光纤光栅对的光纤光栅的反射率不相同。

5.根据权利要求4所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:所述的光纤光栅的反射率在1%-99%之间。

6.根据权利要求5所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:所述的Mach-Zehnder干涉仪由单芯保偏光纤和熔嵌式双芯保偏光纤的两端分别进行熔接耦合而构成,是指单芯保偏光纤的尾端和熔嵌式双芯保偏光纤一端利用保偏光纤熔接机直接对接熔合完成耦合,或是对熔接后的光纤利用拉锥机在两光纤焊点处进行加热拉锥,在焊点处形成准锥形结构来实现1×2分束,而熔嵌式双芯保偏光纤另一端与单芯保偏光纤形成准锥形结构来实现2×1合波器的功能。

7.根据权利要求6所述的双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪,其特征是:所述的熔嵌式双芯保偏光纤纤芯进行铒掺杂。

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