[发明专利]电容性触摸板设备有效

专利信息
申请号: 201010180848.9 申请日: 2010-05-13
公开(公告)号: CN101887335A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 渡边圣 申请(专利权)人: 奥博特瑞克斯株式会社
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 钱大勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电容 触摸 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及电容性触摸板设备。

背景技术

存在一种用于电容性触摸板的感测方法。该方法使用利用ITO(氧化铟锡)形成图案的多个传感器电极或其他透明电极的每个作为独立传感器来捕捉电容变化并进行量化。该方法可以叫做自电容方法或单传感器方法。这里,该方法被称为第一方法。

还存在另一种用于电容性触摸板的感测方法。该方法的功能出于量化目的划分为两个类别:驱动侧和感测侧。该驱动侧为了驱动目的而将在电极之间产生的电容充电和放电。该感测侧测量产生的电容变化。该方法被叫做互电容方法。这里,该方法被称为第二方法。

当实现同时检测两个或更多的触摸点的多触摸能力以便使用基于第一方法的触摸板时,出现重影(ghost)点的问题,因此检测的坐标并不总是与实际触摸的点一致。

在例如日本专利申请公开JP-P2009-9249A中描述了一种能够进行多点记录的电容性触摸板。该触摸板被配置为使得多个二维电容传感器被安置为彼此非常接近并彼此平行。

能够通过例如使用执行基于固件的计算的算法处理单元或具有能够执行算法处理操作的内建微计算机的控制IC而非触摸板控制IC来确定两个触摸点中哪个被较早触摸,然后依据较早触摸点的坐标来消除重影坐标(错误检测的坐标),以使得避免在使用第一方法期间会发生的重影现象。

但是,在确定两个触摸点中的哪个被较早触摸之后消除错误检测的坐标的方法仅当在两个触摸之间的时间差比一个序列的扫描时段长时才能成功地避免重影现象。此外,如果任何过程需要由外部固件执行,则另一问题发生而降低了处理的速度并且给外部设备强加了负荷。

此外,在JP-P2009-9249A中描述的触摸板仅在有限区域中接受同时多点记录。

同时,第二方法使得可以避免由于多触摸可能引起的重影现象。但是,必须将控制IC输出分配到驱动侧或感测侧。这造成一个问题,可应用的触摸板的大小和形状受到限制或者扫描速率比使用第一方法时的低。

图23示出基于第一方法的用于触摸板的电极图案的示例。图23中示出的示例表示这样一种图案,其中六个电极排列在x方向而五个电极排列在y方向。图24是说明基于第一方法的、图23所示的触摸板的电容测量序列的图。如图24所示,测量通过板加载电极和手指产生的电容的第一方法对所有传感器端子执行行顺序扫描。图24涉及具有其中六个电极排列在x方向而五个电极排列在y方向的电极图案的触摸板,并且指示当每个传感器的测量时间是T时一个序列所需的时间是11T。

同时,图25示出基于第二方法的用于触摸板的电极图案的示例。图25中示出的示例表示这样一种情况,其中存在驱动侧端子D1到D6和感测侧端子S1到S5。图26是说明基于第二方法的、图25所示的触摸板的电容测量序列的图。如图25所示,测量在面板的两个或多个电极之间产生的电容的第二方法相对于驱动侧的行顺序驱动在感测侧执行行顺序扫描。图26涉及具有驱动侧端子D1到D6和感测侧端子S1到S5的触摸板,并指示一个序列所需的时间是30T。如上所述,与需要较短的11T的时间的第一方法形成显著的对照,第二方法需要每序列30T的时间。这意味着使用第二方法会增加响应时间。

发明内容

本发明的一个示范目标是提供一种电容性触摸板设备,其能够检测多个触摸同时最小化响应时间的增加。

根据本发明的示范方面的电容性触摸板设备包括:

电容性触摸板,其具有在x和y方向排列的传感器电极;和

感测控制单元(如,感测控制单元24),其控制扫描序列的执行以测量传感器输出值,该传感器输出值是通过对在安装在电容性触摸板中的传感器电极和位于接近该传感器电极的导体(如,手指)之间产生的电容的变化进行量化而获得的;

其中,感测控制单元实施控制来:

通过对安装在电容性触摸板中的所有传感器电极执行第一扫描序列(如,正常扫描序列),利用为了避免灵敏度斜率的检测而执行的设置,来测量传感器输出值,

如果第一扫描序列的结果指示多点被触摸,则通过对与从多点触摸得出的多个触摸位置候选坐标相关的传感器电极执行第二扫描序列(如,重影消除序列),利用为了允许灵敏度斜率的检测而执行的设置,来再次测量传感器输出值,以及

依据在执行第二扫描序列时测量的传感器输出值和灵敏度斜率的趋势识别和消除测错的坐标。

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