[发明专利]用于感应测量的装置和方法

权利要求书

1.用于无损地并且无接触地探测在相对于该装置移动的检验品(13)中的缺陷(23)的装置，其具有

发送线圈配置(18)，其具有至少一个发送线圈(18)，以给该检验品施加周期交变电磁场，

接收线圈配置(15)，其具有至少一个接收线圈(12，14，15)，以探测具有载波振荡的周期电信号，其中如果由该接收线圈配置探测到缺陷，那么该载波振荡的幅度和/或相位就由于该检验品中的缺陷而被调制，

信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)，以从接收线圈信号中产生有用信号；以及

分析单元(50，60，64)，以为了识别在该检验品中的缺陷而分析该有用信号；

其特征在于，

自检单元(62)，其构造成用于自动地或者按照外部要求对该信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)的信号处理功能进行系统定量检验，和/或对发送线圈配置(18)和/或接收线圈配置(15)进行系统定量检验，和/或按照外部要求借助于代替该发送线圈配置和/或接收线圈配置设置的校准器(96)对该信号处理单元进行校正。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，该自检单元(62)构造成用于为检验信号处理功能而如此连接该信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)，使得该发送线圈配置(18)的信号直接作为周期输入信号而被输入到该信号处理单元中，其中该信号由该自检单元被系统地变化。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，该信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)具有放大器(17，74)和滤波器(19，52，78)，其中该自检单元构造成用于借助该发送线圈配置(18)的信号频率和幅度的变化，来验证所测量的放大器的放大和所测量的滤波器的角频率和斜率是否处于给定的标准中，并且其中如果不满足该标准，那么就输出一个相应的缺陷信号。

4.根据前述权利要求之一所述的装置，其特征在于，该发送线圈(11，18)的驱动器(40，42，70)具有电流传感器(72)，其中该自检单元(62)构造成用于根据发送线圈电流和发送线圈电压来确定并监控该发送线圈的阻抗。

5.根据前述权利要求之一所述的装置，其特征在于，该接收线圈作为差动线圈配置(15)来构造。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，该自检单元(62)构造成用于确定并监控该接收线圈(15)的电压差。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，该自检单元(62)构造成用于把发送线圈电流和接收线圈电压差作为时间的函数来进行存储，以能够观测该发送线圈(18)和该接收线圈(12，14，15)的长时间变化。

8.根据前述权利要求之一所述的装置，其特征在于，该装置具有至少一个间距传感器发送线圈(82)和至少一个间距传感器接收线圈(82)，其中该信号处理单元(60，68，74，76，78，80，88，90，94)构造成用于根据该间距传感器接收线圈信号来生成一个间距信号，该间距信号表示在该检验品(13)与该发送线圈配置(18)及该接收线圈配置(12，14，15)之间间距的大小。

9.根据前述权利要求之一所述的装置，其特征在于，该装置构造成为多通道的，其中该发送线圈配置(18)和该接收线圈配置(15)分别具有多个线圈，该线圈分别分配有某一测量频率。

10.根据前述权利要求之一所述的装置，其特征在于，该校准器(96)具有至少一个RC单元。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，借助该RC单元的一个经校正的测量电阻来对该信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)的A/D变换器(35，80)关于其精确度来进行验证。

12.根据权利要求10或11所述的装置，其特征在于，借助该RC单元的角频率来对该信号处理单元(17，19，35，37，52，60，68，74，76，78，80，88，90，94)的处理器(60)的扫描频率进行验证。