[发明专利]一种物料停留时间分布测试装置

权利要求书

1.一种物料停留时间分布测试装置，包括通光管(2)、光学窗口(5)、荧光探测器(6)、信号处理单元(7)，其特征在于，所述装置还包括激发光源(1)、半透半反镜(3)和光源供电单元(8)，激发光源(1)发射的光束经过半透半反镜(3)入射到位于光学窗口(5)的被测物料上，被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光，所述荧光经过半透半反镜(3)后传输到荧光探测器(6)；激发光源(1)和光源供电单元(8)电连接，荧光探测器(6)和信号处理单元(7)电连接。

2.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述的激发光源(1)为发光二极管。

3.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述的半透半反镜(3)选择性透射特定波段内的光辐射，选择性反射其他一定波段内的光辐射。

4.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述装置还包括激发光源滤光片(9)，激发光源滤光片位于激发光源(1)到半透半反镜(3)之间的光路上。

5.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，在荧光探测器(6)前设置荧光滤光片(12)。

6.如权利要求1或3所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述的半透半反镜(3)与通光管(2)的主轴线成一定角度相交。

7.如权利要求1或2所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，光源供电单元(8)为一恒流电源。

8.如权利要求1所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述装置设有用来监测激发光源(1)稳定性的激发光源探测器(10)。

9.如权利要求1或3所述的一种物料停留时间分布测试装置，其特征在于，所述的激发光源(1)所发出的激发光透过半透半反镜(3)入射到被测物料上，所述的荧光探测器(6)设置在物料所发出的荧光经半透半反镜(3)反射后的光路上。