[发明专利]一种主板和保护主板芯片的测试方法无效

专利信息
申请号: 201010176341.6 申请日: 2010-05-12
公开(公告)号: CN101859267A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 孙巍;王志梁 申请(专利权)人: 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G01R31/28
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;潘中毅
地址: 518057 广东省深圳市南山区高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 主板 保护 芯片 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信领域,尤其涉及一种主板和保护主板芯片的测试方法。

背景技术

在电子设备的生产过程中,往往需要对电子设备进行测试,例如对手机等电子设备主板上的芯片进行测试,现有技术中,通常将芯片的引脚直接引到主板的焊盘上,即引到主板上对应的测试点上,用户可以使用镊子等金属探针通过该测试点接触芯片的引脚,进行测试。

将芯片的引脚直接连接主板上对应的测试点进行测试,由于芯片的引脚与测试点连接的方式简单直连,那么当用户误操作,或者不良人员故意通过金属探针对芯片引脚进行不合理的带电测试时,很容易给芯片造成损坏,给用户带来损失。

发明内容

本发明实施例在于提供一种主板和保护主板芯片的测试方法,通过测试点辅助模块,解决了现有技术中进行芯片测试时容易给芯片造成损坏的问题,有效地保护了主板上的芯片。

为了解决上述技术问题,本发明实施例提出了一种主板,包括芯片引脚以及测试所述芯片引脚的测试点,所述主板包括:

测试点辅助模块,分别与所述芯片引脚和所述测试点相连接,用于接收控制连接信号,并根据所述控制连接信号导通或断开所述芯片引脚与所述测试点之间的连接;所述控制连接信号用于控制所述芯片引脚与所述测试点之间的连接。

其中,所述测试点辅助模块包括门电路,所述门电路分别与所述芯片引脚和所述测试点相连接,用于根据接收的控制连接信号导通或断开所述门电路,以控制所述芯片引脚与所述测试点之间的导通或断开。

其中,所述门电路包括至少一个用于接收控制连接信号的外接端口。

其中,所述测试点辅助模块包括可编程逻辑器件,所述可编程逻辑器件分别与所述芯片引脚和所述测试点相连接,用于根据接收的控制连接信号运行所述可编程逻辑器件,以控制所述芯片引脚与所述测试点之间的导通或断开。

其中,所述可编程逻辑器件包括至少一个用于接收控制连接信号的外接接口。

其中,所述主板还包括与所述外接接口连接的控制连接信号发生模块,用于生成控制连接信号,通过所述外接接口发送给所述可编程逻辑器件。

相应地,本发明实施例公开了一种电子设备,包括上述的主板。

相应地,本发明实施例公开了一种保护主板芯片的测试方法,包括:

接收控制连接信号,所述控制连接信号用于控制主板测试点与芯片引脚之间的连接;

根据所述控制连接信号导通或断开所述主板测试点与所述芯片引脚的连接。

其中,所述主板设有门电路,所述门电路分别与所述芯片引脚和所述测试点相连接,根据所述控制连接信号导通或断开所述主板测试点与所述芯片引脚的连接的步骤包括:

根据所述控制连接信号导通或断开所述门电路,以控制所述芯片引脚与所述测试点之间的导通或断开。

其中,所述主板设有可编程逻辑器件,所述可编程逻辑器件分别与所述芯片引脚和所述测试点相连接,根据所述控制连接信号导通或断开所述主板测试点与所述芯片引脚的连接的步骤包括:

根据所述控制连接信号运行所述可编程逻辑器件,以控制所述芯片引脚与所述测试点之间的导通或断开。

其中,所述主板设有与所述可编程逻辑器件连接的控制连接信号发生模块,所述接收控制连接信号的步骤之前,还包括:

所述控制连接信号发生模块生成控制连接信号,并发送给所述可编程逻辑器件。

实施本发明实施例,具有如下有益效果:

在芯片引脚以及测试所述芯片引脚的测试点之间设置测试点辅助模块,以控制芯片引脚与测试点之间的连接,能够有效地保护主板上的芯片,解决了现有技术中对主板上的芯片进行测试时容易给芯片造成损坏的问题,避免了给用户带来不必要的损失,并可以实现对芯片引脚与测试点之间的连接的加密隔离,防止别人通过测试点获取电子设备的内部代码,有效地保护了用户的商业机密。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例的主板的结构示意图;

图2是本发明实施例的测试点辅助模块的结构示意图;

图3是本发明测试点辅助模块的另一实施例的结构示意图;

图4是本发明实施例保护主板芯片的测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。

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