[发明专利]通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置和方法无效

专利信息
申请号: 201010176102.0 申请日: 2010-05-18
公开(公告)号: CN101852718A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 张永康;王飞;姚红兵;孟春梅;程丽娟;鲁金忠;张朝阳 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 汪旭东
地址: 212013 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 通过 偏转 激光 冲击 强化 进行 质量 评估 装置 方法
【权利要求书】:

1.通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置,其特征是,包括激光器(10)、五轴工作台(11)、约束层(12)、吸收层(13)、工件(14)、示波器(20)、分光镜(21)、光电二极管A(22)、光电二极管B(23)和探测激光器(24);在激光器(10)输出光路上放置所述分光镜(21),所述分光镜(21)于激光器(10)输出光路的夹角为(45)度;在所述分光镜(21)反射的触发光路上放置光电二极管(22),所述光电二极管(22)和分光镜(21)的连线与激光器(10)输出光路垂直,所述分光镜(21)和工件(14)的距离与所述分光镜(21)和光电二极管A(22)的距离相等,所述光电二极管(22)通过信号线连接到示波器(20);在激光器(10)输出光路的一侧放置探测激光器(24),所述探测激光器(24)输出的探测激光束和激光器(10)输出光路在同一平面内且相互垂直;在所述探测激光器(24)相对激光器(10)输出光路对称的位置上放置光电二极管B(23),所述探测激光器(24)和激光器(10)输出光路的距离与所述光电二极管B(23)和激光器(10)输出光路的距离相等,所述光电二极管B(23)通过信号线连接到示波器(20)。

2.根据权利要求1所述的通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置,其特征是,所述探测激光器(24)输出的探测激光束距离工件(14)的距离为1cm-5cm。

3.根据权利要求1所述的通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置,其特征是,所述分光镜(21)透射94%-98%的激光能量,反射2%-6%的激光能量。

4.根据权利要求1、2或3所述的通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置,其特征是,所述工件(14)装夹于五轴工作台(11),工件(14)上覆盖有吸收层(13),吸收层(13)上覆盖有约束层(12)。

5.实施权利要求1所述的通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置的方法,其特征是,具体步骤如下:

1)装夹工件(14)、吸收层(13)和约束层(12),开启探测激光器(24)和示波器(20),从激光器()10发射激光束对工件(14)冲击强化;

2)在激光冲击强化后,工作人员从示波器(20)上读出这次冲击的时间差,将其和标准时间差进行比较,反应出等离子体冲击波的强度,判定冲击强化的效果。

6.根据权利要求5所述的通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的方法,其特征是,所述标准时间差是在正常工作条件下示波器采集到的时间差。

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