[发明专利]一种电容器寄生电感的测量方法无效

专利信息
申请号: 201010175588.6 申请日: 2010-05-13
公开(公告)号: CN101839947A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 储松潮;黄云锴 申请(专利权)人: 安徽铜峰电子股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R31/00
代理公司: 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 代理人: 汤茂盛
地址: 244000 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 电容器 寄生 电感 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电容器寄生电感的测量方法。

背景技术

电力电子电容器广泛应用于轨道交通、高速列车、中高压变频器等领域,这些领域对所需电容器的性能有着特别苛刻的要求。电容器寄生电感是其性能的一个重要指标。如果电容器寄生电感较大可引起这些设备直流母线电压升高,同时使控制核心元件绝缘栅双极型晶体管(IGBT)上产生过电压,由此可能引发绝缘栅双极型晶体管的损坏或设备故障。基于上述原因,很多设备厂家要求电容器寄生电感小于50~100nH。而GE、Alstom、BCP等一些大公司要求电容器寄生电感小于30nH。

目前常规使用放电法测量电容器寄生电感,使用LCR测量仪或示波器测量基本参数。具体测试方法如图1所示,即用两个铜带作为测试电极21、22分别固定在电容器的两个正负外电极11、12上,测试电极11、12分别通过导线31、32与LCR测量仪或示波器的两测试电极电连接。测试时,LCR测量仪或示波器对两个铜带施加一定频率的电压,再瞬间将两个铜带短路,记录下LCR测量仪或示波器上放电波形,计算出电容器放电周期T,利用下面公式计算电容器寄生电感:

l=(T/2π)2/c

l0=l-l1

其中:l为总电感,l0为电容器寄生电感,l1为外接测试回路电感,c为被测电容器容量,T为电容器放电周期。

这种测试方法的优点是简单,不需要专门的测试仪器。其缺点是外接测试电极铜带自身存在的杂散电感L1、L2等因素,使测试电感误差较大,误差电感量约在20nH左右,使得判断被测电容器的实际寄生电感量受到影响,特别是在用户对电容器寄生电感要求严格,要求电容器寄生电感低于30nH的情况下,这种测试方法明显不能满足要求。

发明内容

本发明的目的是针对上述放电法测量电容器寄生电感存在的不足之处,提供一种电容器寄生电感的测量方法,可以减少因测试电极杂散电感造成的误差,提高电容器寄生电感的测试精度。

本发明是在放电法测量电容器寄生电感基础上的改进。本发明是这样实现的:它包括以下步骤:

(1)选取由同一导电材料制成的长度、宽度和厚度相等的两块板材作为测试电极;

(2)在测试电极的相同位置开设与待测电容器外电极配合的安装孔,将测试电极分上下两层通过安装孔设置在待测电容器的外电极上,并且一个测试电极与待测电容器外电极的正极电连接,另一个测试电极与待测电容器外电极的负极电连接;

(3)将两个测试电极与测试仪表的的两个输入端子电连接;

(4)按常规放电法测量得到电容器寄生电感值。

由于两个测试电极长度、宽度和厚度相等,其电感量可以使用精密LCR测量仪测量。两个测试电极并且处在相邻的上下位置上,两个测试电极的磁力感应线可以相互抵消,外接电路中测试电极部分的杂散电感和等效电阻,提高测量的精确性。

本发明的优选方案是:步骤(2)中测试电极通过叠加方式固定在待测电容器的外电极上,测试电极之间设置绝缘层。这样,上下两个测试电极叠加在一起,两者之间的间隙小,可以最大程度地降低外接电路中测试电极部分的杂散电感和等效电阻,尽可能的降低了测量的误差。

由上述技术方案可知,本发明采用两个长度、宽度和厚度相等的同材质测试电极,两个测试电极叠加设置,两者之间的间隙小,两个测试电极的磁力感应线可以相互抵消,使得外接电路中测试电极部分的杂散电感和等效电阻的影响降到最低,提高了电容器寄生电感测量的精确性。

附图说明

图1为现有电容器寄生电感测试原理图;

图2为本电容器寄生电感测试原理图。

具体实施方式

如图2所示,选用两块长度、宽度和厚度相等的两块铜带作为测试电极21、22,测试电极21、22上在相同位置开设与待测电容器四个外电极11、12、13和14配合的安装孔,测试电极21、22通过叠加方式固定在待测电容器的四个外电极11、12、13和14上,测试电极21、22之间设置绝缘层4。测试电极21与待测电容器外电极的正极11、13电连接,测试电极22与待测电容器外电极的负极12、14电连接;测试电极11、12分别通过导线31、32与LCR测量仪或示波器的两测试电极电连接。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽铜峰电子股份有限公司,未经安徽铜峰电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010175588.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top