[发明专利]光拾取装置以及光盘装置无效

专利信息
申请号: 201010171551.6 申请日: 2010-04-28
公开(公告)号: CN101877230A 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 永富谦司 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘建
地址: 日本国大阪府守*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 拾取 装置 以及 光盘
【说明书】:

技术领域

本发明涉及光拾取装置以及光盘装置,尤其涉及对层叠多个记录层的记录介质照射激光时适合使用的装置。

背景技术

近年来,随着光盘的大容量化,记录层的多层化日益进展。通过在一张盘片中含有多个记录层,能够显著地提高盘片的数据容量。层叠记录层的情况,目前一般都是一面双层。最近,为了进一步进行大容量化,研究有在一面上配置三层以上的记录层。其中,当增加记录层的层叠数时,能够促进盘片的大容量化。但是,另一方面,记录层之间的间隔变狭窄而由层之间的交叉串扰(クロスト一ク)产生的信号恶化增大。

对记录层进行多层化时,来自作为记录/再生对象的记录层(目标记录层)的反射光变微弱。由此,当无用的反射光(杂光)从处于目标记录层上下的记录层入射到光检测器时,具有检测信号发生恶化而对聚焦伺服(フォ一カスサ一ボ)以及跟踪伺服(トラツキングサ一ボ)带来不良影响的可能。因此,在多数配置这种记录层的情况下,需要适当地去除杂光而使来自光检测器的信号稳定化。

在以下的专利文献1和专利文献2中分别记载了利用针孔(ピンホ一ル)去除杂光的技术和通过组合1/2波长板与偏振光光学元件而去除杂光的技术。另外,在专利文献3中记载了抑制在跟踪误差信号中产生的DC成分的方法。

专利文献1:日本特开2006-260669号公报

专利文献2:日本特开2006-252716号公报

专利文献1:日本特开平11-353666号公报

根据上述专利文献1的技术,由于需要将针孔正确地定位在从目标记录层反射的激光(信号光)的会聚位置,因此存在针孔位置调整操作困难的问题。若为了简化位置调整操作而将针孔设成较大,则杂光通过针孔的比率增加,而不能有效地抑制由杂光产生的信号恶化。

另外,根据专利文献2的技术,由于为了去除杂光,1/2波长板和偏振光光学元件每个都需要两个之外还需要两个透镜,因此部件件数和成本增加,而且,存在各构件的配置调整较繁琐的问题。此外,需要排列配置这些构件的空间,所以还存在光学系统大型化的问题。

另外,在光盘装置中,基于由盘片反射的激光的光量分布的偏颇,生而成跟踪误差(トラツキングェラ一)信号。在这种跟踪误差信号中,根据相对于激光光轴的物镜偏移,重叠有DC成分。因此,在光盘装置中要求顺利地抑制这种DC成分的方法。

发明内容

本发明是为了解除这些问题而提出,其目的在于,提供一种能够以简单的结构去除杂光,并且能够抑制在跟踪误差信号中产生的DC成分的光拾取装置以及光盘装置。

本发明的第一方案涉及对具有多个记录层的记录介质照射激光的光拾取装置。第一方案所涉及的光拾取装置具备:光源,其射出所述激光;物镜,其将所述激光会聚在所述记录介质上;像散部,其具备由所述记录介质反射的所述激光所入射的、并且在所述激光的光轴周围被分割的多个的透镜区域,这些透镜区域至少被相对于来自所述记录介质的轨道像具有45度角的两条直线所分割,在各透镜区域分别在所述激光中导入像散;光束离散部,其使得入射在所述各透镜区域中的所述激光的光束前进方向变得相互不同,从而使所述各光束离散;光检测器,其对所述离散后的各光束进行受光而输出检测信号,所述透镜区域构成为,在与所述光轴周围相邻的其它两个所述透镜区域之间的第一以及第二边界中,向与所述第一边界平行的方向会聚所述光束而在第一焦距的位置上形成焦线,同时向与所述第一边界垂直的方向会聚所述光束而在与所述第一焦距不同的第二焦距的位置上形成焦线,并设定为,所述各透镜区域的所述第一边界彼此不相接,所述光束离散部设定为,在处于所述激光对焦在所述记录介质中的目标记录层的状态时,由所述目标记录层反射的所述激光的所述各光束和由所述目标记录层以外的其它记录层反射的所述激光的所述各光束在所述光检测器的受光面上不相互重叠。

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