[发明专利]可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡

说明书

技术领域

本发明是与电性检测用的探针设备有关，更详而言之是指一种可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡。

背景技术

探针卡是作为一检测机与一待测电子物件之间的测试信号传输接口用，为达到有效传输高频测试信号，该探针卡必须具有与检测机及待测电子物件一致或接近的阻抗。

已知用以达成前述目的的方法有许多，例如在测试信号传输路径上，通过改变探针卡上的导电焊接点设置数量，以使探针卡具有与检测机及待测电子物件一致或接近的阻抗；又如在具有同轴探针的探针卡结构中，通过降低存在于同轴探针的寄生电容的方式，来提升电性传输能力；另有利用更换具有不同阻抗的电子元件的方式，以促使探针卡具有与检测机及待测电子物件匹配的阻抗。

诚然上述各方式虽能达成目的，却也存在可再改进之处，以更换电子元件的方式为例，因探针卡的电子元件(如电感)是以焊接方式直接与PCB电路板上的导电接点电性连接，当电性检测发现探针卡的阻抗与检测机及待测电子物件并不趋近且高于一预设值时，电子元件必须先经过解焊再取下，后而换上具有不同阻抗的新电子元件，以及重新焊接，如此方完成电子元件的更换作业。

然而，电子元件在解焊与重新焊接过程中，容易因作业不易造成更换的负担进而影响电性检测的效率；其次，在换上新的电子元件过程中，因电子元件体积极小不易对准PCB电路板上的导电接点，遂使得更换作业更加困难；再者，电子元件在解焊与重新焊接过程中易受到损坏。是以，该已知利用更换电子元件来达成探针卡具有与检测机及待测电子物件匹配阻抗的方式，因更换作业不易且影响电性检测的效率，故有再改善之处。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡，具有快速更换电子元件之效，以增进电性检测的效率。

缘以达成上述目的，本发明提供的可更换电子元件阻抗匹配结构的探针卡，包含一支撑单元、至少一个电子元件与一压制装置。其中，支撑单元具有一表面且该表面定义有至少一个布件区，该布件区内设有至少一个导电接点；电子元件设置于该支撑单元的布件区，且其底端具有一导电端与该导电接点电性连接；压制装置用以提供一作用力促使该电子元件的导电端紧密地接触该支撑单元的导电接点。

依据上述构思，本发明的压制装置具有一压板，该压板可受操作而相对支撑单元于一压制位置与一未压制位置间移动，且压板具有一压贴面在压板位于该压制位置时与电子元件的顶端接触。至此，以使电子元件因承受下压作用力而确实与支撑单元的导电接点电性连接。

依据上述构思，本发明更提供有一对位件，该对位件具有至少一开口对齐导电接点，开口供电子元件安置其中。至此，使得电子元件可快速地对准支撑单元的导电接点，以提升作业效率。

依据上述构思，本发明再提供有至少一设置于该支撑单元的安置座，该安置座具有至少一镂空部对应该支撑单元的布件区；该压制装置具有一结合于该安置座的压板，该压板可受操作而相对安置座于一压制位置与一未压制位置间移动，且压板具有一压贴面于压板位于该压制位置时与电子元件的顶端接触。

依据上述构思，本发明可再提供有一结合于该支撑单元的补强件，用以强化支撑单元的刚性；而该安置座结合于该补强件。

附图说明

图1为本发明第一较佳实施例的分解立体图。

图2为本发明第一较佳实施例的组合立体图。

图3为本发明第一较佳实施例的局部剖面示意图。

图4为本发明第一较佳实施例的安置座立体图。

图5为本发明第一较佳实施例的对位件立体图。

图6类同图3，揭示于电子元件与电路板之间设有异方性导电胶。

图7为本发明第二较佳实施例的分解立体图。

图8为本发明第二较佳实施例的组合立体图，揭示压板位于压制位置。

图9类同图8，揭示压板位于未压制位置。

图10为本发明第三较佳实施例的分解立体图。

图11为本发明第四较佳实施例的分解立体图。

图12为本发明第四较佳实施例的压板、电子元件与导电垫片的示意图。

图13为本发明第五较佳实施例的剖视图。

图14为本发明第六较佳实施例的剖视图。

【主要元件符号说明】

『第一较佳实施例』

1探针卡

10电路板            12布件区            14导电接点

16补强件            16a螺孔             17螺栓