[发明专利]光拾取装置无效
申请号: | 201010165890.3 | 申请日: | 2010-04-20 |
公开(公告)号: | CN101866664A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 木村茂治 | 申请(专利权)人: | 日立视听媒介电子股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/13 | 分类号: | G11B7/13;G11B7/135 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 装置 | ||
技术领域
本发明涉及光拾取装置,特别涉及光拾取装置的读出光学系统。
背景技术
光盘的1层的记录容量在很大程度上依赖于所使用的半导体激光器的波长和物镜的数值孔径(NA)。半导体激光器的波长越短,或者NA越大,记录密度就能够越大,也就能够增加每1层的容量。当前市面上流通的光盘驱动器主要是使用波长650nm附近的红光和NA0.6的物镜的DVD(Digital Versatile Disc:数字多用途光盘)驱动器,但是作为比DVD的记录密度更高的光盘驱动器,也生产出了以光波长405nm附近的蓝紫色的半导体激光器作为光源、使用NA0.85的物镜的光盘驱动器。作为使当前达成的记录密度进一步增加的方式,可以考虑波长的短波长化,但是可预料到开发比该蓝紫色更短的紫外区域的半导体激光器是困难的。此外,关于物镜的高NA化,因为在空气中物镜的NA的极限为1,所以通过物镜的NA提高记录密度也是困难的。
这样的状况下,作为增加1张光盘的容量的方式,实施双层化。非专利文献1中介绍了双层的相变化光盘的技术。在将激光照射到双层光盘的情况下,因为同时照射相邻层,所以层间的串扰成为问题。为了减少该问题,使层间隔增大。这样,激光被聚光,作为目标的层(目标层)以外的层偏离激光的聚光面,所以能够降低串扰。
另一方面,在扩大层间隔时球面像差会成为问题。记录层埋在折射率与空气不同的聚碳酸酯中,球面像差因距离盘片表面的深度不同而不同。物镜被按照其球面像差对于特定的层变小的方式设计,当将激光的焦点移至其他层时,焦点位置与表面的距离发生变化,因此产生球面像差。该像差通常能够通过在物镜前放置由2片透镜构成的扩束透镜(Expander Lens)光学系统或者液晶元件来进行校正。即,能够通过改变2片透镜的距离或者液晶元件的相位来校正像差。但是,考虑到,若在小型的光盘驱动器装置内实现液晶元件的可补偿范围或透镜的移动机构,则难以校正较大的球面像差。
在为了进一步增加容量而进行多层化的情况下,因为球面像差的校正极限,多层整体的厚度受到限制,若层数多则层间隔变窄。因此,在实际的多层用的光盘驱动器装置中,残留有层间串扰。
为了降低上述串扰,根据非专利文献2,在用透镜将来自多层光盘的反射光聚光时,利用来自作为目标的层和相邻层的反射光的聚光位置在光轴上不同这一现象。以包含光轴的形式配置光栅,在来自目标层的反射光的聚光面上配置反射镜。来自相邻层的反射光会因为照射到光栅而被衰减。另一方面,来自目标层的反射光透过光栅与反射镜的间隙,所以能够不被衰减地返回检测系统。由此能够降低层间串扰。
此外,在非专利文献3中,使用1束光束获得跟踪信号,但需要防止双层的杂散光影响跟踪信号。通过采用在偏离光轴的位置检测配置在归路上的光栅的中心部分的光的结构,使杂散光不会入射到配置在光轴中心附近的跟踪信号检测用的4分割检测器中。
使用图4说明光拾取装置的检测光学系统中的因多层光盘引起的串扰。在此处,跟踪误差信号的检测使用PP(Push-Pull:推挽)法,聚焦误差信号的检测使用像散法。为了简化,令501为双层光盘,511和512为信息记录层。从物镜401向多层光盘出射的光线的最小聚束点(beam spot)位置如光线80所示在信息记录层511上,要读取来自信息记录层511的信息。光盘501旋转,在信息记录层511上形成有如图5所示的用于跟踪的引导槽。图5表示信息记录层的一部分,旋转轴位于左侧远方。光线作为光斑94照射该引导槽。若基于旋转轴进行光轴的垂直方向的定义,则箭头521的方向为径向方向,箭头522的方向为切线方向。照射光的焦点在记录层511上,所以其反射光反方向地沿着与入射光相同的光路返回到图4的物镜401。
当测定透过物镜之后的523的位置上的反射光的强度分布时,例如为图6所示。该情况下,仅考虑引导槽的影响,由于相对槽在垂直方向上产生的衍射光,出现所谓的球图案(ball pattern)。即,941和942表示的明暗区域出现在径向方向521上,明暗按照与引导槽的位置关系而变化。接着,图4的来自物镜401的出射光透过有像散的检测透镜402,作为光束801照射光检测器51。光检测器51设置在最小弥散圆的位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立视听媒介电子股份有限公司,未经日立视听媒介电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010165890.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。