[发明专利]取像光学透镜系统有效

专利信息
申请号: 201010165886.7 申请日: 2010-04-20
公开(公告)号: CN102236150A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 汤相岐;蔡宗翰 申请(专利权)人: 大立光电股份有限公司
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G02B13/18;G02B13/22
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 透镜 系统
【说明书】:

技术领域

本发明是关于一种取像光学透镜系统;特别是关于一种应用于微型化取像模组的光学系统。

背景技术

最近几年来,随着取像模组的蓬勃发展,小型化摄影镜头的需求日渐提高,而一般摄影镜头的感光元件不外乎是感光耦合元件(Charge CoupledDevice,CCD)或互补性氧化金属半导体元件(Complementary Metal-OxideSemiconductor,CMOS)两种,且随着半导体制造技术的精进,使得感光元件的像素尺寸缩小,再加上现今电子产品以功能佳且轻薄短小的外型为发展趋势,因此,具备良好成像品质的微型取像镜头俨然成为目前市场上的主流。

传统的取像光学透镜系统为考量像差的补正,多采用三片式透镜结构为主,如美国专利第7,529,041号所示,由物侧至像侧依序为一具正屈折力的第一透镜、一具负屈折力的第二透镜及一具正屈折力的第三透镜,构成所谓的Triplet型式。然而其第一透镜是采以一双凸透镜的形式,虽然这样的形式能够有效缩短系统的光学总长度,但却容易造成第一透镜的屈折力过大,使系统产生较多的像差,影响系统的成像品质,且系统为了平衡第一透镜的屈折力,其第二透镜与第三透镜也须跟着加大屈折力配置,将造成系统的敏感度相对提高,对制造上良率的控制较为困难。

发明内容

本发明提供一种取像光学透镜系统,由物侧至像侧依序包含:一第一透镜,其物侧表面为凸面及像侧表面为凹面;一具正屈折力的第二透镜,其物侧表面及像侧表面皆为非球面;一具负屈折力的第三透镜,其物侧表面及像侧表面皆为非球面,且该第三透镜的物侧表面与像侧表面中至少一表面设置有至少一个反曲点;及另设置一光圈于该第一透镜与该第二透镜之间;其中该取像光学透镜系统中具屈折力的透镜数为3片,整体取像光学透镜系统的焦距为f,该第一透镜的焦距为f1,该第一透镜的物侧表面曲率半径为R1,该第一透镜的像侧表面曲率半径为R2,该第二透镜于光轴上的厚度为CT2,并满足下列关系式:|f/f1|<0.58;0.20<R1/f<0.65;0.00<R2/f<2.40;0.10mm<CT2<1.00mm。

另一方面,本发明提供一种取像光学透镜系统,由物侧至像侧依序包含:一第一透镜,其物侧表面为凸面;一具正屈折力的第二透镜,其物侧表面及像侧表面皆为非球面;及一具负屈折力的第三透镜,其物侧表面为凹面及像侧表面为凸面,且该第三透镜的物侧表面及像侧表面皆为非球面;其中该取像光学透镜系统中具屈折力的透镜数为3片,整体取像光学透镜系统的焦距为f,该第一透镜的焦距为f1,该第三透镜的焦距为f3,该第二透镜的物侧表面曲率半径为R3,该第二透镜的像侧表面曲率半径为R4,该第三透镜的像侧表面曲率半径为R6,满足下列关系式:|f/f1|<0.58;|R3/R4|>0.94;-0.75<f/f3<-0.05;R6/f3>0。

再另一方面,本发明提供一种取像光学透镜系统,由物侧至像侧依序包含:一第一透镜,其物侧表面为凸面;一具正屈折力的第二透镜,其物侧表面及像侧表面皆为非球面;一具负屈折力的第三透镜,其物侧表面及像侧表面皆为非球面,且该第三透镜的物侧表面与像侧表面中至少一表面设置有至少一个反曲点;及另设置一光圈于该第一透镜之前;其中该取像光学透镜系统中具屈折力的透镜数为3片,整体取像光学透镜系统的焦距为f,该第一透镜的焦距为f1,该第二透镜的物侧表面曲率半径为R3,该第二透镜的像侧表面曲率半径为R4,该第二透镜于光轴上的厚度为CT2,满足下列关系式:|f/f1|<0.58;|R3/R4|>0.94;0.10mm<CT2<1.00mm。

本发明通过上述镜组的配置方式,可以有效缩小透镜组体积、降低光学系统的敏感度并且更能获得较高的解像力。

本发明前述取像光学透镜系统中,该第一透镜可为一具正屈折力或负屈折力透镜,当该第一透镜具正屈折力时,可有效分配该第二透镜的屈折力,有助于降低该取像光学透镜系统的敏感度;当该第一透镜具负屈折力时,则有利于扩大该取像光学透镜系统的视场角。该第二透镜具正屈折力,是提供系统的主要屈折力,以有效控制系统的总长度,避免镜头体积过大。该第三透镜具负屈折力,可与该第二透镜形成一正、一负的望远(Telephoto)结构,可有效降低该取像光学透镜系统的光学总长度。

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