[发明专利]SCR静电保护器件无效
申请号: | 201010164926.6 | 申请日: | 2010-04-29 |
公开(公告)号: | CN101819962A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 胡剑 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | scr 静电 保护 器件 | ||
1.一种SCR静电保护器件,包括:
P阱和N阱,位于衬底内,所述P阱和所述N阱相连;
第一P型注入区和第一N型注入区,位于所述P阱内,所述第一P型注入区和所述第一N型注入区之间用浅沟槽隔离;
第二P型注入区和第二N型注入区,位于所述N阱内,所述第二P型注入区和所述第二N型注入区之间用浅沟槽隔离;
其特征在于所述保护器件还包括:
第一电阻,其一端连接于所述第一P型注入区;
第二电阻,其一端连接于所述第二N型注入区。
2.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述第一电阻的另一端连接阴极。
3.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述第一N型注入区连接阴极。
4.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述第二电阻的另一端连接阳极。
5.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述第二P型注入区连接阴极。
6.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述保护器件还包括N+注入区,所述N+注入区位于所述P阱和所述N阱的交界区域内。
7.根据权利要求6所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述保护器件还包括轻掺杂漏极区和光环区,所述轻掺杂漏极区和所述光环区位于所述P阱内,且均和所述N+注入区相连。
8.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述衬底为P型衬底。
9.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述保护器件应用于触发电压为10伏特至100伏特的半导体静电保护电路中。
10.根据权利要求1所述的SCR静电保护器件,其特征在于所述第一电阻和所述第二电阻均为滑动变阻器。
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