[发明专利]地层因数确定方法及含油饱和度确定方法

说明书

技术领域

本发明涉及石油勘探中的测井评价技术，具体是应用于测井解释中的一种基于导电流体体积和导电路径的低渗透储层地层因数确定方法及含油饱和度确定方法。

背景技术

测井解释的主要任务是识别和定量评价油气层，以阿尔奇公式及其扩展形式为代表饱含水岩石的电学性质是利用测井资料定量评价含油饱和度的基础，在测井定量解释的发展中发挥了重要的作用。经典的阿尔奇公式适用于具有粒间孔隙且孔、渗性较好的纯砂岩，它具有较单一的孔隙大小分布，孔喉匹配关系好，离子迁移是岩石导电的唯一途经。经典的阿尔奇公式为：

F=R0Rw=aφm---(1)]]>

I=RtR0=bSwn---(2)]]>

随着石油勘探的不断深入，人们发现，阿尔奇公式及其各种改进形式并不能适应所有的储层类型，特别是在次生孔隙发育孔隙结构复杂的低渗透油藏中，岩石电学性质的影响因素复杂。对于饱含水岩石，除孔隙度对岩石电学性质影响外，孔隙类型及其含量、孔隙结构等因素对岩石电学性质的影响往往起着控制作用。对于次生孔隙发育的低渗透储层，不同类型孔隙所占比例差别很大，孔喉比变化大，孔隙间的连通情况千差万别，储层孔渗关系复杂，岩石电学性质与原生粒间孔隙为主的砂岩有很大的差别，表现为非阿尔奇岩石电学性质特征，应用经典阿尔奇公式确定的饱含水岩石的电学性质计算储层的含油饱和度会产生很大的误差，影响油气层的识别和定量评价。

发明内容

鉴于现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种地层因数测量及确定方法和含油饱和度确定方法，以解决现有技术中地层因数确定的不准确、计算含油饱和度误差大的缺陷。

本发明实施例提供一种地层因数确定方法，包括步骤：选取次生孔隙发育低渗透油气层代表性系列岩心，测量并获得岩心孔隙度φ、渗透率K、毛管压力曲线Pc、平均孔喉半径其中孔隙度φ反映岩石中导电流体体积，反映导电路径；将岩石中导电流体体积和导电路径作为确定地层因数F的参数，具体关系式为：根据导电流体体积和导电路径，确定地层因数；其中的系数a、b、c通过岩心数据标定获得。

本发明实施例还提供一种含油饱和度确定方法，包括步骤：选取次生孔隙发育低渗透油气层代表性系列岩心，测量并获得岩心孔隙度φ、渗透率K、毛管压力曲线Pc、平均孔喉半径其中孔隙度φ反映岩石中导电流体体积，反映导电路径；将岩石中导电流体体积和导电路径作为确定地层因数F的参数，具体关系式为：根据导电流体体积和导电路径，确定地层因数F；其中的系数a、b、c通过岩心数据标定获得；由水分析资料获得地层水电阻率Rw；由测井资料获得储层电阻率Rt；应用阿尔奇模型确定含油岩石饱和度指数n，根据公式获得储层的含油饱和度，其中，S_O为含油饱和度；S_W为含水饱和度。

本发明的有益效果在于，通过引入导电流体体积和导电路径作为确定地层因数的参数，使地层因数更加符合实际地层情况，测量含油饱和度结果更加准确。

附图说明

图1为本发明地层因数确定方法的流程图；

图2为本发明含油饱和度确定方法的流程图；

图3为通过本发明确定的地层因数与实验测量的地层因数对比图；