[发明专利]半导体器件及其驱动方法有效

专利信息
申请号: 201010163101.2 申请日: 2006-07-04
公开(公告)号: CN101819750A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 梅崎敦司;木村肇;山崎舜平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 及其 驱动 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

多个像素;

驱动电路;以及

检测电路,

其特征在于:

其中所述多个像素中的每个包括第一子像素和第二子像素,

其中所述第一子像素包括第一子像素的发光元件、用于控制对所 述第一子像素的所述发光元件的电流供应的第一子像素的第一晶体 管、和用于控制对所述第一子像素的所述第一晶体管的栅极的视频信 号的输入的第一子像素的第二晶体管,

其中所述第二子像素包括第二子像素的发光元件、用于控制对所 述第二子像素的所述发光元件的电流供应的第二子像素的第一晶体 管、和用于控制对所述第二子像素的所述第一晶体管的栅极的视频信 号的输入的第二子像素的第二晶体管,

其中所述第一子像素的所述第一晶体管的源极和漏极中的一个 电连接于所述第一子像素的发光元件,

其中所述第二子像素的所述第一晶体管的源极和漏极中的一个 电连接于所述第二子像素的发光元件,

其中所述第一子像素的所述第一晶体管的所述源极和所述漏极 中的另一个与所述第二子像素的所述第一晶体管的所述源极和所述漏 极中的另一个电连接于相同的电源线,

其中所述第一子像素的所述第二晶体管的栅极和所述第二子像 素的所述第二晶体管的栅极电连接于相同的栅极信号线,

其中所述检测电路检测到所述第一子像素的所述发光元件和所 述第二子像素的所述发光元件的电流的值,

其中所述驱动电路被配置为驱动具有点缺损子像素的像素,使得 当所述第一子像素是所述点缺损子像素时通过用所述第二子像素的所 述发光元件来表示灰度级从而补偿具有所述点缺损子像素的所述像 素,

其中所述检测电路是电流值检测电路,所述电流值检测电路包括 选择器电路、恒流源和模拟-数字转换电路;

其中所述电流值检测电路通过电源线电连接到所述发光元件的 一个电极,

其中所述电流值检测电路电连接在所述发光元件的所述一个电 极和电源之间,

其中所述选择器电路的第一端子电连接到所述电源线,所述选择 器电路的第二端子电连接到所述发光元件的所述一个电极和所述模拟 -数字转换电路的输入,并且所述选择器电路的第三端子电连接到所述 恒流源;

其中当检测到所述第一子像素和所述第二子像素中的所述点缺 损子像素时所述选择器电路的所述第二端子和所述第三端子电连接, 而在正常驱动时所述选择器电路的所述第一端子和所述第二端子电连 接;以及

其中当检测到所述第一子像素和所述第二子像素中的所述点缺 损子像素时,恒定电流输入到所述发光元件,从而获得的电势由所述 模拟-数字转换电路转换成数字值。

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