[发明专利]一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法

权利要求书

1.一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法，包括以下步骤：

1)、一配备光栅的投影仪向物体投射结构光图案；

2)、一摄像机在另一位置拍摄被物体反射回来的变形图像；

3)、对物体反射回来的变形图像进行解析，获得与摄像机像面上 的点对应的投影平面上点的坐标；

4)、根据几何关系计算出物体测量点坐标进行三维重构，获得物 体三维图像；

其特征在于

步骤1)所述的结构光图案包含光栅图案和空间灰度编码图案， 即采用正弦光栅或罗奇光栅图案加一幅空间灰度编码图案的方法实 现绝对相位测量，

该空间灰度编码图案由以下步骤构建：

A)、空间灰度编码图案由若干与光栅条纹对应的条带构成，条 带的宽度与条纹周期相同；

B)、利用条带中沿条带方向的灰度值变化规律确定一组编码符 号；

C)、由这组编码符号构建的伪随机序列确定空间灰度编码图 案。

2.根据权利要求1所述的光学三维测量方法，其特征在于所述的伪 随机序列构建方法包含以下步骤：

a)、从指定的一组编码符号中随机选取个数等于窗口长度的 编码符号，构成初始序列；

b)、从该组编码符号中随机选取1个符号，添加到已构建的 序列后形成新序列；

c)、判断该新序列是否满足以下条件；

大于等于窗口长度的子序列是唯一的，

在任意等于窗口长度的子序列内无重复编码符号， 如符合，则检查整个序列长度是否不小于光栅条纹数， 如果满足，构建结束，否则转b)步，

如不符合，则删除刚添加的编码符号，转b)步。

3.根据权利要求1所述的光学三维测量方法，其特征在于所述空间 灰度编码图案包含三级灰度值。