[发明专利]正电子CT装置和核医学图像生成方法无效
| 申请号: | 201010158135.2 | 申请日: | 2010-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN101862199A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
| 发明(设计)人: | 高山卓三;勅使川原学;梅原隆哉;小森智康 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01T1/161 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 崔成哲 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 正电子 ct 装置 核医学 图像 生成 方法 | ||
1.一种正电子CT装置,是根据从被检体内的放射性同位素发射的伽马射线的检测结果生成图像的正电子CT装置,其特征在于,包括:
检测器,具有将入射的上述伽马射线变换为与上述伽马射线的能量对应的光量的光的多个闪烁器,该检测器围绕上述被检体并列配置成环状;
位置算出部,根据上述伽马射线向毗邻的多个上述闪烁器同时入射而上述检测器检测同时入射的上述伽马射线的检测结果,算出上述伽马射线的通过位置;以及
重构部,通过将通过上述算出的上述通过位置的轨迹作为投影方向而进行逆投影处理,重构上述被检体内的上述放射性同位素的浓度分布的上述图像。
2.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的2个上述闪烁器同时入射时:
算出表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高的比率,
算出上述伽马射线分别通过上述2个上述闪烁器内的距离的比率与上述波高的比率一致的上述伽马射线的轨迹,
算出上述毗邻的上述2个闪烁器的边界与上述轨迹的交点,
将上述交点作为上述通过位置。
3.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的3个上述闪烁器同时入射时:
算出表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高的比率,
算出上述伽马射线分别通过上述3个闪烁器内的距离的比率与上述波高的比率一致的上述伽马射线的轨迹,
算出上述毗邻的3个上述闪烁器的各边界与上述轨迹的交点,
将上述各边界上的上述交点作为上述通过位置。
4.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的2个上述闪烁器同时入射时:
根据表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高与上述2个闪烁器的阻止本领,算出上述毗邻的上述2个闪烁器的边界上的上述伽马射线的上述通过位置。
5.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的3个上述闪烁器同时入射时:
根据表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高与上述3个闪烁器的阻止本领,算出上述毗邻的上述3个闪烁器的各边界上的上述伽马射线的上述通过位置。
6.根据权利要求2所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部根据与毗邻的上述2个闪烁器同时入射上述伽马射线的其他闪烁器的位置,判别向上述毗邻的上述2个闪烁器入射的上述伽马射线的入射方向,并且
上述位置算出部根据方向与上述入射方向一致的上述伽马射线的上述轨迹,算出上述通过位置。
7.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的2个上述闪烁器同时入射时:
算出表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高的比率,
算出在上述2个闪烁器的边界上在深度方向按照上述比率分割上述闪烁器的位置而作为上述通过位置。
8.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述位置算出部在上述伽马射线向毗邻的3个上述闪烁器同时入射时:
算出表示由上述检测器检测的上述伽马射线的能量的波高的比率,
分别算出作为上述3个闪烁器的各边界上的各1点的、在深度方向按照上述比率分割上述闪烁器的位置而作为上述通过位置。
9.根据权利要求7所述的正电子CT装置,其特征子在于:
上述位置算出部根据与毗邻的上述2个闪烁器同时入射上述伽马射线的其他闪烁器的位置,判别向上述毗邻的上述2个闪烁器入射的上述伽马射线的入射方向,
上述位置算出部求出表示向位于上述入射方向的前侧的上述闪烁器入射的上述伽马射线的能量的波高、与表示向上述入射方向的里侧的上述闪烁器入射的上述伽马射线的能量的波高的比率,并且
上述位置算出部算出在上述深度方向按照上述比率分割上述闪烁器的位置而作为上述通过位置。
10.根据权利要求1所述的正电子CT装置,其特征在于:
上述闪烁器的深度方向的厚度为10mm以下。
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