[发明专利]校正值获取方法、校正方法和图像显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及使用电子发射器件的图像显示装置。本发明还涉及用于图像显示装置的驱动方法，更特别地，涉及用于校正由于电子发射器件的电子发射特性导致的亮度偏差(luminance dispersion)的方法。

背景技术

在包含场发射显示器的平板型显示装置的情况下，必须在基板上形成许多的发光器件。这些发光器件的特性受制造条件的轻微差异影响。这使得一般难以使包含于平板显示装置中的所有发光器件的特性完全均匀。发光特性的这种不均匀性导致显示装置的亮度偏差，并且使图像质量劣化。在场发射显示器的情况下，例如，使用表面传导型、Spindt型、MIM型和碳纳米管型等作为电子发射器件。如果电子发射器件的形状由于电子发射器件的制造条件的差异而改变，那么电子发射器件的电子发射特性因此改变。结果，在场发射显示器中产生亮度偏差，这使图像质量劣化。

为了解决该问题，已提出根据各发光器件的发光特性校正图像信号的配置。例如，已提出对于各发光器件的所有灰度级产生校正值表的配置(参见日本专利申请公开No.2000-122598的图6)。但是，如果使用该配置，那么，如果发光器件的数量和灰度级的数量增加，则所需的校正值表的容量增加。用于进行测量以获取校正值表所需的时间也变得非常长。美国专利No.6097356的说明书(图7)提出对于所有的像素测量I-V(电流-电压)特性或亮度的灰度依赖性，并且使用通过拟合(fitting)确定的参数仅对于特定的灰度级产生校正值表的配置。对于不产生校正值表的灰度级，通过以线性近似或高次近似内插(interpolate)校正值表，计算校正值。

发明内容

根据日本专利申请公开No.2000-122598和美国专利No.6097356，为了在整个灰度级区域中均匀校正亮度偏差，必须对于每一个像素的所有灰度级(或许多灰度级)测量I-V特性或亮度偏差，并且产生大容量的校正值表。在全HD(具有1920×3×1080个像素，RGB各有10位灰度级)的情况下，例如，如果校正值具有8位分辨率，那么需要6.4G字节的校正表，这使得电路规模巨大。还需要巨量的计算时间以对于所有像素测量I-V特性或亮度偏差的灰度(操作点)依赖性。此外，需要大量的计算时间来基于巨量的测量数据计算拟合参数。结果，常规的校正方法实际上是难以实现的。

鉴于以上的情况，需要大幅减少用于获取校正值的测量时间和计算时间以及安装于电路中的校正表的技术。由于内插误差随着校正值表的减小而增加，因此，还需要即使校正值表减小，内插误差也较小的校正方法(和图像显示装置)。

本发明提供通过使用较小的校正值表以微小的误差实现亮度偏差校正的技术。

本发明在其第一方面中提供一种获取用于对具有多个电子发射器件的图像显示装置的亮度偏差进行校正的校正值的校正值获取方法，该方法包括：第一步骤，用与第一灰度级对应的驱动信号驱动所述多个电子发射器件并且测量对于所述第一灰度级的亮度偏差；第二步骤，选择所述多个电子发射器件中的一个或更多个电子发射器件作为目标器件、用与各灰度级对应的驱动信号驱动所述目标器件、并且测量对于各灰度级的所述目标器件的亮度；第三步骤，用与各灰度级对应的驱动信号的电压振幅的常数倍的驱动信号驱动所述目标器件，并且测量对于各灰度级的所述目标器件的亮度；和计算步骤，使用在所述第二步骤中测量的亮度与在所述第三步骤中测量的亮度的亮度比以及在第一步骤中测量的亮度偏差，计算各电子发射器件的对于各灰度级的校正值。

本发明在其第二方面中提供一种对具有多个电子发射器件的图像显示装置的亮度偏差进行校正的校正方法，该方法包括以下的步骤：使用由上述校正值获取方法获取的校正值，校正亮度数据；和基于经校正亮度数据产生用于驱动电子发射器件的驱动信号。