[发明专利]一种半导体反射型光纤温度传感器无效
申请号: | 201010154666.4 | 申请日: | 2010-04-23 |
公开(公告)号: | CN102235919A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 李旭;齐龙舟;皋魏;席刚;仝芳轩;周正仙 | 申请(专利权)人: | 上海华魏光纤传感技术有限公司 |
主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201700 上海市青浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 反射 光纤 温度传感器 | ||
1.一种半导体反射型光纤温度传感器,包括传导光纤、半导体膜层,其特征在于:所述的半导体膜层通过镀膜技术镀到光纤纤芯端面。
2.据权利要求1所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,所述的光纤纤芯一端插入绝缘插针中,纤芯端面和绝缘插针端面在同一平面内,半导体被均匀的镀到该平面内。
3.根据权利要求1或2所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,所述的镀膜技术为离子辅助蒸镀法。
4.根据权利要求1所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,所述的半导体膜层厚度为100nm-500nm。
5.根据权利要求1或2所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,所述的绝缘插针为陶瓷插针。
6.根据权利要求1所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,在陶瓷插针外面封装一个绝缘套筒。
7.根据权利要求1或5所述的半导体反射型光纤温度传感器,其特征在于,所述的绝缘套筒为陶瓷套筒。
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