[发明专利]位置侦测的装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种位置侦测的装置与方法，特别是涉及一种压触式的位置侦测的装置与方法。

背景技术

美国专利公开号US2007/0198926中，Jouget et al.揭示了一种压触式位置侦测的装置，包括一上电极层与一下电极层，上、下电极层分别包括多数条不同方向的平行排列导线，并且上下层间分布绝缘粒子(spacer)，藉以将上、下电极层隔开。因此当上电极层受到下压时，部份上电极层的导线会与下电极的导线接触，其中所有下电极层导线接地。上电极层的导线是循序被驱动，并且在任一条上电极层导线被驱动时，所有下电极层导线皆会被循序侦测一次，藉此可侦测所有上、下电极层导线相交的相迭点。因此被驱动的上电极层导线与被侦测的下电极层导线因下压而接触时，电流会由被驱动的电极层导线流向被侦测的下电极层导线，藉由侦测下电极层导线的讯号，便可以侦测到哪些相迭点被压触。

然而如图1所示，当手指压触时可能同时造成一群相迭点同时被压触，在侦测的过程中会造成在后被侦测的下电极层导线的讯号变小，因此必须针对不同位置的相迭点给予不同的比较值，才能在讯号较小时仍可分辨是否被压触。然而这样的解决办法还是可能因为在前被压触的相迭点数过多而不准确，显然地，各相迭点的比较值的建立、储存都需要花上许多成本，但却又无法保证准确度。此外，当分辨率要求比较高时，就必须增加导线的密度，相对地侦测的频率就必须降低。

由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的第一目的为提供一种位置侦测的装置与方法，位置侦测的装置包括：一感应器，包括多数条导电条相迭构成的多数个相迭区，其中相迭于任一相迭区的一对被压触导电条因电性接触形成一接触点时构成一被压触相迭区；一驱动器，分别提供一高电位与一低电位；一侦测器，侦侧至少一导电条的一讯号；一选择器，操作性耦合些导电条于驱动器与侦测器；以及一控制器，包括对驱动器、侦测器与选择器进行至少以下控制：直接或通过一延伸电阻间接分别提供高电位与低电位于同一导电条的一第一端与一第二端；直接或通过一延伸电阻间接分别提供高电位与低电位于至少一第一导电条的第一端与至少一第二导电条的第一端；侦测些导电条之一与延伸电阻间的讯号；在一对被压触导电条之一被提供高电位与低电位时，侦测对被压触导电条的另一的第一端或第二端之一或两者的电位；以及通过延伸电阻间接提供高电位与低电位于同一导电条的第一端与第二端时，通过侦测导电条与延伸电阻间的讯号，以判断一未被压触电位与一被压触电位。

前述的相迭的导电条间由多数个绝缘粒子相隔，未被压触时彼此电性绝缘，并且在被压触时构成被压触相迭区。

在上述位置侦测装置中，位置侦测的方法是通过侦测出被压触的相迭区，再依据被压触相迭区分别侦测出位于被压触相迭区上的接触点。被压触相迭区的侦测可以是先侦测被压触的导电条，依据被压触的导电条判断出可能被压触相迭区，再由可能被压触相迭区侦测出被压触相迭区。

通过侦测被压触导电条，可以缩小搜寻被压触相迭区的范围，并且通过侦测被压触相迭区，可以缩小搜寻接触点的范围。因此，本发明的位置侦测的装置与方法可以快速地侦测出所有的接触点，各接触点的位置可以用二维坐标来表示。

由于本发明采用较宽的导电条，导电条涵盖的侦测范围大于现有技术，因此得到优于先前技术的分辨率。

此外，本发明能同时侦测出多个不同压触物压触的接触点，可用以追踪后续压触，并判断出不同的手势。

本发明的第二目的在提供一种判断压触的总接触阻抗的装置与方法，在前述的本发明的位置侦测装置中，更包括：判断压触在该些相迭区上的每一个压触，以及每一个压触的一总接触阻抗，其中跨相迭区的压触的该总接触阻抗为多数个相迭区的一接触阻抗的并联阻抗。

前述的控制器更包括依据每一压触的该总接触阻抗追踪每一压触的后续压触，其中每一压触与每一后续压触的该总接触阻抗的差在一预设范围内，并且相应于相同压触的该被压触相迭区为相邻的相迭区。

依据总接触阻抗，可判断出笔、手指或手掌的压触。

在总接触阻抗小于一门坎限值时，可判断为多压触于一群相邻的被压触相迭区，反之，为单压触相迭区。