[发明专利]线路检测结构和线路检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及平板显示技术，特别涉及平板显示装置的线路检测结构和线路检测方法。

背景技术

随着显示器技术快速的进步与演进，传统的阴极射线管显示器(CathodeRay Tube，CRT)已逐渐被淘汰，取而代之的是以液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)为代表的平板电视。由于液晶显示器具有显示质量高、能源消耗低及无辐射等优点，使得液晶显示器大量地被应用于移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本计算机、数码摄影机、数码相机、计算机屏幕以及液晶电视等通信、信息或消费性电子产品之中。

液晶显示装置具有由矩阵状的显示像素构成的有效显示部分。所述有效显示部分具有沿显示像素的行方向延伸的扫描线、沿显示像素的列方向延伸的数据线、配置在扫描线与数据线的交叉部分附近的开关元件、以及与开关元件连接的像素电极等。但是在制造液晶显示装置的工艺过程中，大量设置的扫描线和数据线总会因为一些生产缺陷，例如成膜质量的好坏、环境的洁净度、划伤、设备等，造成线路断点。例如，若数据线出现断点缺陷，则与所述断点的数据线相对应的像素电极就不能得到正常的数据信号，从而形成显示面板的显示缺陷，降低图像的显示品质。因此，液晶面板厂商会对液晶显示装置的半成品或成品进行电性检测，检出其中的不良品，防止大规模不良的发生以及不良品流入下一工序。

请参阅图1，显示现有技术中常见的一种线路检测结构。如图1所示，所述线路检测结构应用于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上至少包括：沿显示像素的行方向延伸的扫描线(未在图式中显示)；沿显示像素的列方向延伸的数据线，在图1中分别以D₁、D₂、D₃、D₄、D₅、D₆作标示。

所述线路检测结构包括：短路棒，在图1中分别以101、102、103作标示的短路棒；提供数据线与短路棒连接的过孔结构，具体来讲，数据线D₁、D₄分别通过过孔结构V₁、V₄与短路棒101连接，数据线D₂、D₅分别通过过孔结构V₂、V₅与短路棒102连接，数据线D₃、D₆分别通过过孔结构V₃、V₆与短路棒103连接；分别与短路棒101、102、103连接的测试端子104、105、106。

应用所述线路检测结构时，通过在测试端子104、105、106上施加特定电压信号，让液晶显示装置显示例如红色、绿色、蓝色、灰色或黑色等画面，以检测各数据线是否能正常工作。

易知，在制造工艺过程中，由于静电过大，会将过孔结构处的导电介质(铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物)烧毁；或者由于线路的划伤，如图1所示数据线D₂在外围区域109的108处出现断点，就会出现不良现象。两者引起的缺陷在这里统称为线缺陷。但利用现有的线路检测结构仅能检测是否存在有线缺陷，但不能判定所述线缺陷的原因是过孔结构损坏导致还是线路划伤导致的。为确保产品质量，一旦检测出线缺陷，就将产品予以报废(而实际上过孔结构损坏导致的线缺陷，产品没有必要报废，最终不影响产品的性能)，这样就会造成浪费。

发明内容

本发明的目的是提供一种线路检测结构和线路检测方法，以解决现有线路修复技术中不能判定线缺陷的类型而直接将存在线缺陷的产品报废导致材料浪费成本上升的问题。