[发明专利]数控机床动态特性测试分析系统无效
申请号: | 201010145762.2 | 申请日: | 2010-04-14 |
公开(公告)号: | CN101794138A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 吴波;胡友民;金超;何俊杰;吴传海;邢迟;胡峰;徐增柄;夏军勇 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G05B19/4065 | 分类号: | G05B19/4065 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 朱仁玲 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数控机床 动态 特性 测试 分析 系统 | ||
1.一种数控装备动态特性测试分析系统,包括传感器子系统、二次仪表子系统、数据采集子系统和数据存储分析系统;
其中,所述传感器子系统用于获取准待测数控装备的振动信号与温度信号;
所述二次仪表子系统对采集到的信号进行调理,包括对信号进行滤波和放大;
所述数据采集子系统采集上述经调理后的模拟信号,并将其转化为数字信号后输出给数据存储分析系统;
所述数据存储分析系统用于对输入的数字信号进行存储及分析,完成状态识别并进行相应的诊断。
2.根据权利要求1所述的数控装备动态特性测试分析系统,其特征在于,所述的数据存储分析系统包括信号采集模块、数据管理模块、信号分析模块和图形显示模块,
其中,所述信号采集模块接收上述数据采集子系统输出的数字信号,并通过设置采样通道、采样率、增益、触发方式、采样点数和数据采集模式实施采集;
所述数据管理模块采用数据库的方式存储数据,生成所需的文件,并根据检测点选择相应采集通道采集的数据文件实现读取操作;
所述信号分析模块包括信号预处理,时域分析,幅值谱分析,频域分析,时频分析和模态分析,通过对数控装备采集到的信号进行上述处理,即可实现状态识别并进行相应的诊断;
所述图形显示模块以图形化的方式显示上述信号采集、数据管理和信号分析得到的状态识别和诊断结果。
3.根据权利要求1或2所述的数控装备动态特性测试分析系统,其特征在于,所述的传感器子系统包括:测量支撑丝杠的轴承及工作台振动的加速度传感器和测量进给系统在不同工况下的温度的温度传感器。
4.根据权利要求1-3之一所述的数控装备动态特性测试分析系统,其特征在于,所述数据存储分析系统运行于上位机中。
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