[发明专利]放射线成像设备及其暗电流校正方法有效

专利信息
申请号: 201010141919.4 申请日: 2010-03-31
公开(公告)号: CN101849834A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 松浦友彦 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01T1/16
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;陈立航
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 成像 设备 及其 电流 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种放射线成像设备,用于获得被摄体的放射线图像,所述放射线成像设备包括:

照射单元;

放射线检测单元,用于检测放射线;

指示单元,用于发出放射线成像开始指示;

设置单元,用于设置所述指示单元发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间;

第一获取单元,用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间期间,从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像;

第二获取单元,用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间结束之后,从所述放射线检测单元获取所述被摄体的放射线图像;

校正数据生成单元,用于基于所述第一获取单元所获取的多个暗电流图像,生成对于所述第二获取单元所获取的放射线图像的校正数据;以及

校正单元,用于通过使用所述校正数据生成单元所生成的校正数据,对所述第二获取单元所获取的放射线图像执行暗电流校正处理。

2.根据权利要求1所述的放射线成像设备,其特征在于,所述校正数据生成单元包括用于分析所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的分析单元,并且基于所述分析单元所获得的分析结果,生成与所述放射线图像相对应的所述校正数据。

3.根据权利要求2所述的放射线成像设备,其特征在于,

所述分析单元生成表示所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的函数;以及

所述校正数据生成单元基于所述分析单元所生成的函数、以及从所述指示单元发出所述成像开始指示的时刻到所述第二获取单元获取所述被摄体的所述放射线图像的时刻的经过时间,生成所述校正数据。

4.根据权利要求3所述的放射线成像设备,其特征在于,表示所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的所述函数的特征是相对于所述经过时间的增加为单调非增或单调非减函数,并且在所述经过时间无限大时变为常数。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的放射线成像设备,其特征在于,所述设置单元基于所述被摄体的成像信息,设置所述指示单元发出所述成像开始指示的时刻和开始所述照射的时刻之间的所述照射延迟时间。

6.根据权利要求5所述的放射线成像设备,其特征在于,所述成像信息包括成像技术、成像区域、成像体位、X射线照射条件、成像请求源、被摄体的大小和被摄体的年龄中的至少一个。

7.根据权利要求1所述的放射线成像设备,其特征在于,还包括:

图像处理单元,用于对由所述校正单元校正后的所述放射线图像执行图像处理;以及

显示单元,用于显示由所述图像处理单元处理后的所述放射线图像。

8.一种放射线成像设备的暗电流校正方法,所述放射线成像设备包括照射单元和放射线检测单元,所述暗电流校正方法包括以下步骤:

发出放射线成像开始指示;

设置发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间;

在所设置的照射延迟时间期间,从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像;

在所设置的照射延迟时间结束之后,获取被摄体的、基于所述放射线检测单元检测到的放射线的放射线图像;

基于所获取的多个暗电流图像,生成对于所获取的被摄体的放射线图像的校正数据;以及

使用所生成的校正数据,对所述被摄体的所述放射线图像执行暗电流校正处理。

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