[发明专利]电容式触摸屏按键检测方法

权利要求书

1.一种电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1，系统上电，硬件初始化；

步骤2，对各按键的反馈电压信号进行采样及处理；

步骤3，进行按键判断处理；

步骤4，对采样数据进行滤波处理；

步骤5，判断是否已到基准时间？如果否，返回步骤2；如果是，继续执行步骤6；

步骤6，刷新各个按键的基准值；

步骤7，判断长按键时间是否大于等于6秒？如果否，返回步骤2；如果是，继续执 行步骤8；

步骤8，刷新全部按键的基准值，然后执行步骤2；

所述步骤2的对各按键的反馈电压信号进行采样及处理具体包括：

步骤201，ADC采样电路对按键的反馈电压信号进行采样；

步骤202，采样值累加取平均，得到平均采样值；

步骤203，判断平均采样值是否大于等于基准值？如果是，则结束步骤2；如果否， 继续执行步骤204；

步骤204，用所述的基准值减去平均采样值，其结果作为差值1；

步骤205，判断所述差值1是否大于等于有效阀值？如果否，则结束步骤2；如果是， 继续执行步骤206；

步骤206，按键计数值加1，并结束步骤2；

所述步骤3的按键判断处理具体包括：

步骤301，判断上电时间是否超过2秒？如果否，执行步骤302；如果是，则执行步 骤303；

步骤302，将采样计数值清零，并结束步骤3；

步骤303，采样计数值加1；

步骤304，判断采样计数值是否大于等于总采样次数？如果否，则结束步骤3；如果 是，执行步骤305；

步骤305，判断各个按键的按键计数值是否大于等于有效次数？如果是，执行步骤 306；如果否，则执行步骤307；

步骤306，将各个按键的标志位置位；

步骤307，判断本次采样结果与上次采样结果是否相同？如果否，执行步骤308；如 果是，执行步骤309；

步骤308，刷新本次采样结果，并将连续计数值清零，然后执行步骤309；

步骤309，连续计数值加1；

步骤310，判断连续计数值是否大于等于连续次数？如果是，执行步骤311；如果否， 执行步骤312；

步骤311，进行按键处理并输出结果，然后执行步骤312；

步骤312，将采样计数值和按键计数值清零，并结束步骤3。

2.根据权利要求1所述的电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：所述基准时间 为10ms。

3.根据权利要求1所述的电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：对各个按键的 反馈电压信号进行采样及处理时，采样顺序为顺次进行或并列进行。

4.根据权利要求3所述的电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：所述采样值累 加，是连续对反馈电压信号采样256次后，对所得到的采样值进行累加，再取平均值，所 得结果为平均采样值。

5.根据权利要求1所述的电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：判断各个按键 的按键计数值是否大于等于有效次数、将各个按键的标志位置位，各个按键的判断顺序为 顺次进行或并列进行。

6.根据权利要求5所述的电容式触摸屏按键检测方法，其特征在于：所述总采样次 数为100次。