[发明专利]分布光度测试装置无效

专利信息
申请号: 201010134188.0 申请日: 2010-03-12
公开(公告)号: CN102192782A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 吴登峻;林晓成;何展効;李思贤;陈智隆;梁玮耘;林宥聿;赖明正 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01M11/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 分布 光度 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种分布光度测试装置,其特征在于,包括有:

一光源挟持部;

一第一转动部,其与该光源挟持部相耦接,该第一转动部提供一第一转动动力使该光源挟持部产生关于一第一轴的转动运动;

一第二转动部,其与该第一转动部相耦接,该第二转动部提供一第二转动动力使该光源挟持部产生关于一第二轴的转动运动;以及

一光传感器,其设置于该光源挟持部的一侧。

2.如权利要求1所述的分布光度测试装置,其特征在于,还具有一反射组件。

3.如权利要求2所述的分布光度测试装置,其特征在于,更具有一档板,其设置于该光传感器与该光源挟持部之间,该档板上开设有一开口,该光传感器设置于该开口的一侧,而该开口的另一侧与该光源挟持部相对应的位置上具有该反射组件,其中该光传感器的感测轴向与该第一轴垂直。

4.如权利要求2所述的分布光度测试装置,其特征在于,光传感器设置于该光源挟持部的下侧。

5.如权利要求1所述的分布光度测试装置,其特征在于,还具有一第一反射组件以及一第二反射组件,该第一反射组件的反射面与该光源挟持部以及该第二反射组件的反射面相对应,而该第二反射组件的反射面与该光传感器以及该第一反射组件的反射面相对应,其中该光传感器的感测轴向与该第一轴平行。

6.如权利要求5所述的分布光度测试装置,其特征在于,该光传感器与该光源挟持部间还具有一档板。

7.如权利要求1所述的分布光度测试装置,其特征在于,该第一轴通过该光源挟持部所挟持的一待测光源的发光面机械轴,该第二轴垂直于一水平面。

8.一种分布光度测试装置,其特征在于,包括有:

一光源挟持部;

一第一转动部,其与该光源挟持部相耦接,该第一转动部提供一第一转动动力使该光源挟持部产生关于一第一轴的转动运动;

一第二转动部,其与该第一转动部相耦接,该第二转动部提供一第二转动动力使该光源挟持部产生关于一第二轴的转动运动;

一光传感器,其设置于该光源挟持部的一侧;以及

一光学镜组,其于该光源挟持部与该光学镜组间的该光学镜组的焦点上以产生一虚像。

9.如权利要求8所述的分布光度测试装置,其特征在于,该光学镜组为包含有至少一凹透镜的光学镜组。

10.如权利要求8所述的分布光度测试装置,其特征在于,还具有一反射组件。

11.如权利要求10所述的分布光度测试装置,其特征在于,还具有一档板,其设置于该光传感器与该光源挟持部之间,该档板上开设有一开口,该光传感器设置于该开口的一侧,而该开口的另一侧与该光源挟持部相对应的位置上具有该反射组件,其中该光传感器的感测轴向与该第一轴垂直。

12.如权利要求10所述的分布光度测试装置,其特征在于,光传感器设置于该光源挟持部的下侧。

13.如权利要求8所述的分布光度测试装置,其特征在于,还具有一第一反射组件以及一第二反射组件,该第一反射组件的反射面与该光源挟持部以及该第二反射组件的反射面相对应,而该第二反射组件的反射面与该光传感器以及该第一反射组件的反射面相对应,其中该光传感器的感测轴向与该第一轴平行。

14.如权利要求13所述的分布光度测试装置,其特征在于,该光传感器与该光源挟持部间还具有一档板。

15.如权利要求8所述的分布光度测试装置,其特征在于,该第一轴通过该光源挟持部所挟持的一待测光源的发光面机械轴,该第二轴垂直于一水平面。

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