[发明专利]电子装置、AD转换装置和AD转换方法无效
| 申请号: | 201010133333.3 | 申请日: | 2010-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN101867734A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
| 发明(设计)人: | 工藤成贵 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | H04N5/335 | 分类号: | H04N5/335;H04N3/15;H03M1/10 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子 装置 ad 转换 方法 | ||
相关申请的交叉参考
本申请包含与在2009年4月3日和2010年3月1日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2009-090764和2010-044532的公开内容相关的主题,在此将这两个日本专利申请的全部内容以引用的方式并入本文作为参考。
技术领域
本发明涉及例如固体摄像器件或摄像装置的电子装置、模拟数字(analog to digital,AD)转换装置和AD转换方法。
背景技术
在电子装置中,模拟信号经常被转换成数字数据(称为AD转换)。有时也将两个模拟信号(电压电平)之间的差转换成数字数据。作为AD转换方法,可以根据电路尺寸、处理速度(高速化)和分辨率等考虑各种方法。作为一个示例,有基准信号比较型AD转换方法(参照JP-A-2005-323331)。此外,基准信号比较型也被称为斜率积分型(slopeintegration type)或斜坡信号比较型(ramp signal comparing type)。
在基准信号比较型AD转换方法中,值逐渐改变的基准信号被用于电压比较,该电压比较用于向数字数据的转换。此外,使待处理的模拟信号和基准信号相比,并且基于通过根据比较处理结果在计数操作有效期间内进行计数处理得到的计数值,获取待处理的信号的数字数据。
在JP-A-2005-323331中公开了一个示例,在该示例中,基准信号比较型AD转换方法被用于固体摄像器件或摄像装置。在通过计算像素信号电压中的复位电平与信号电平之间的差进行相关双采样(CorrelatedDouble Sampling,CDS)处理的情况下,在进行基准信号比较型AD转换时,同时进行该CDS处理。通过获取作为复位电平与信号电平之间的差的结果的数字数据,得到去除了噪声的信号分量的数字数据。
在JP-A-2005-323331公开的方法中,在维持用于复位电平和信号电平的基准信号的斜度(变化率)相同的同时,通过将复位电平的计数期间设定为短于信号电平的计数期间,以此来缩短总的AD转换期间。
但是,在JP-A-2005-323331公开的方法中,复位电平的计数期间的基准信号的振幅(AD转换范围)小于信号电平的计数期间的基准信号的振幅。因此,也与诸如包含在复位电平中的噪声或者比较处理的初始设定中的电压变化等因素有关,复位电平偏离基准信号的振幅。这样,存在难以适当地进行AD转换处理的情况。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种能够解决如下问题的结构,所述问题是:当利用基准信号比较型AD转换方法获取与两个信号电平之间的差对应的数字数据时,待处理的信号电平偏离AD转换范围,因而难以适当地进行AD转换处理。
根据本发明的第一方面,提供一种电子装置,所述电子装置包括:AD转换部,它具有比较部和计数部,所述比较部从生成电平逐渐变化的基准信号的基准信号生成部接收所述基准信号,并对所述基准信号与待处理的模拟信号进行比较,所述计数部接收用于AD转换的计数时钟并基于所述比较部的比较结果进行计数操作,并且所述AD转换部基于所述计数部的输出数据获取所述待处理的信号的数字数据;计数操作期间控制部,它基于所述比较部的比较结果控制各处理期间内的所述计数部的操作期间;以及驱动控制部,它控制所述基准信号生成部和所述AD转换部。所述驱动控制部控制所述基准信号生成部,使得用于差分处理的基准侧的处理周期内的每单位时间的基准信号的斜度被设定为大于包含在所述差分处理中获得的差的一侧的处理周期内的每单位时间的基准信号的斜度。
在基准侧的处理期间,计数期间与未采用第一方面的情况相同,但基准信号的斜度大于未采用第一方面的情况。结果,在基准侧的处理期间,相比未采用第一方面的情况,AD转换范围扩大。
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