[发明专利]电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法有效

专利信息
申请号: 201010130335.7 申请日: 2010-03-23
公开(公告)号: CN102034551A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 黄睿夫 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: G11C17/18 分类号: G11C17/18;G11C29/42
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 葛强;张一军
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子 装置 及其 校正 方法 操作
【权利要求书】:

1.一种电子熔丝装置,用于根据地址数据记录输入数据,该电子熔丝装置包含:

第一检查比特产生器,用于接收该输入数据,并根据该输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据;

程序设计单元,用于根据该输入数据与该第一检查比特数据产生多个熔断信号;以及

电子熔丝阵列,用于接收该多个熔断信号与该地址数据,其中该输入数据与该第一检查比特数据是根据该多个熔断信号与该地址数据被记录在该电子熔丝阵列之中。

2.如权利要求1所述的电子熔丝装置,其特征在于,该程序设计单元包含:

多个移位寄存器,用于分别产生多个熔断使能信号;以及

多个逻辑门,用于接收该输入数据、该地址数据及该第一检查比特数据,并根据该多个熔断使能信号、该输入数据、该地址数据及该第一检查比特数据产生该多个熔断信号。

3.如权利要求2所述的电子熔丝装置,其特征在于,该多个移位寄存器中的每一个接收脉冲信号、时钟信号与写入使能信号,其中该写入使能信号指示熔断该电子熔丝阵列以记录该输入数据及该第一检查比特数据,以及该多个移位寄存器根据该脉冲信号、该时钟信号与该写入使能信号分别产生该多个熔断使能信号。

4.如权利要求2所述的电子熔丝装置,其特征在于,该输入数据与该第一检查比特数据结合以产生具有多个比特的同位数据,以及该多个熔断使能信号分别对应于该同位数据的该多个比特。

5.如权利要求4所述的电子熔丝装置,其特征在于,该多个逻辑门中的每一个接收该同位数据的该多个比特中的一个、该地址数据与对应的熔断使能信号,以及产生对应的熔断信号。

6.如权利要求5所述的电子熔丝装置,其特征在于,该电子熔丝阵列包含多个单元格,该多个熔断信号中的一个被提供到该多个单元格中的一个,以及该多个单元格中的每一个根据该对应熔断信号及该地址数据熔断,以记录该同位数据的该多个比特中的对应比特。

7.如权利要求1所述的电子熔丝装置,其特征在于,该电子熔丝装置更包含:

第二检查比特产生器,用于根据该地址数据从该电子熔丝阵列读取记录数据,并根据该记录数据用该预定错误校正码产生第二检查比特数据;

征状产生器,用于接收该第二检查比特数据,并根据该第二检查比特数据产生校正数据;以及

校正器,用于根据该地址数据从该电子熔丝阵列读取该记录数据的第一部分,接收该校正数据,并用该校正数据校正该记录数据的该第一部分以产生输出数据。

8.如权利要求1所述的电子熔丝装置,其特征在于,该预定错误校正码是汉明码。

9.如权利要求1所述的电子熔丝装置,其特征在于,根据该地址数据,该输入数据与该第一检查比特数据被记录在该电子熔丝阵列的相同行中。

10.如权利要求9所述的电子熔丝装置,其特征在于,该第一检查比特数据位于该输入数据之后。

11.一种电子熔丝装置,用于根据地址数据记录输入数据,该电子熔丝装置包含:

第一检查比特产生器,用于接收该输入数据,并根据该输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据;

程序设计单元,耦接于该第一检查比特产生器,用于根据该输入数据、该地址数据与该第一检查比特数据产生多个熔断信号;

电子熔丝阵列,用于根据该多个熔断信号与该地址数据将该输入数据与该第一检查比特数据记录在该电子熔丝阵列之中;

第二检查比特产生器,耦接于该电子熔丝阵列,用于根据该地址数据从该电子熔丝阵列读取记录数据,并根据该记录数据用该预定错误校正码产生第二检查比特数据;

征状产生器,耦接于该第二检查比特产生器,用于根据该第二检查比特数据产生校正数据;以及

校正器,耦接于该电子熔丝阵列与该征状产生器,用于从该电子熔丝阵列读取该记录数据的第一部分,并用该校正数据校正该记录数据的该第一部分以产生输出数据。

12.如权利要求11所述的电子熔丝装置,其特征在于,该程序设计单元包含:

串联的多个移位寄存器,用于分别产生多个熔断使能信号;以及

多个逻辑门,用于接收该输入数据、该地址数据及该第一检查比特数据,并根据该多个熔断使能信号、该输入数据、该地址数据及该第一检查比特数据产生该多个熔断信号。

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