[发明专利]一种粒径测量的有限分布积分反演算法有效
| 申请号： | 201010129738.X | 申请日： | 2010-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101793665A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 曹章;徐立军;丁洁 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G06F19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 粒径 测量 有限 分布 积分 反演 算法 | ||
【权利要求书】：
1.一种粒径测量的有限分布积分反演算法，其特征在于：其包括下列步骤：
步骤一：首先通过测量得到在有限区间[a，b]上颗粒尺寸参数分布为的颗粒群衍射光强分布I(θ)；
步骤二：通过Hankel变换和Scholmilch方程的解析解，得到反演表达式
其中，x＝πD/λ，D为粒径，分布范围为[a，b]，且a＜b，θ为衍射角，λ为波长，F为透镜焦距，I0为入射光强；式中{λkb}是Jn(x)的正零点，即Jn(λkb)＝0，其中k＝1，2，…N；
步骤三：利用高斯插值方法将方程(1)进行离散化处理得到
其中，lm和tm分别为插值系数和插值节点，N表示衍射角分区的总数，M表示插值节点总数；
步骤四：将高斯插值系数和插值节点带入离散化处理后的式子(2)中，从而获得粒径分布
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