[发明专利]电容测试方法及系统

权利要求书

1.一种电容测试方法，其特征在于包括以下步骤：

激励电流值I恒定的直流电流通过RC并联电路；

在j个时刻t_n分别采集所述RC并联电路的暂态电压值 u_cn，n=1，2，…，j，j〉1；以及

使用I、u_cn、t_n和所述RC并联电路的稳态电压值u₀计算 得到所述RC并联电路中的电容C；

其中，采用下式计算所述电容C：

C=-I×Σn=1j(tn-1jΣn=1jtn)2u0×Σn=1j{(tn-1jΣn=1jtn)[un-1jΣn=1jln(1-ucnu0)]},]]>

其中，j〉2，un=ln(1-ucnu0);]]>

或

C=2j(j-1)Σp=1jΣq=p+1jI(tq-tp)u0(ln(1-ucpu0)-ln(1-ucqu0))]]>

其中，t_p和t_q是从t_n中任意选择的两个时刻，p不等于q， j大于2；

或

C=I(t2-t1)u0(ln(1-uc1u0)-ln(1-uc2u0))]]>

其中，u_c1和u_c2分别为在时刻t₁和t₂采集所述RC并联电 路的所述暂态电压值。