[发明专利]老化测试方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及可靠性测试，并且具体地涉及对消费电子产品执行基于迭代(iteration)和部件的老化(burn-in)测试的方法和系统。

背景技术

老化测试是为了确保满足诸如计算机、MP3播放器、电话之类的消费电子产品的出厂质量水平(OQL)而执行的最重要的过程之一。在室温下进行的老化测试通常还称为Run-in测试。

为了理解老化，则需要理解称为“浴盆曲线”的产品故障曲线，如图1所示。该曲线是三条较小曲线的加总：早期故障(Infant mortality)曲线、随机故障曲线和损耗故障(Wear-out)曲线。对产品的老化测试被设计用于扫除早期故障并获得关于随机故障的信息。

传统上，老化测试是基于时间的，其主要关注早期故障问题。但是，现今产品的部件出故障的百万缺陷数(DPM)极低，以使得几乎不能证明其强于采样测试策略。换而言之，早期故障问题不再是消费电子产品的可靠性测试中的大问题。取而代之，大多数故障往往是依赖于状态的故障，这种故障仅在某些条件下发生或者间歇地发生并且会影响末端用户。

此外，传统老化测试是基于配置的，由于每一个产品存在数千个可能配置，所以这种基于配置的老化测试已经显现出低效率。

因此，希望提供用于消费电子产品的能够克服上述问题的老化测试系统和方法。

发明内容

本发明一个实施例提供了基于迭代和部件的老化测试方法，该方法被设计为对某一部件应用特定迭代次数的测试，以使得可以捕获重复故障并可以执行校正动作来消除故障模式。

根据本发明一个方面，提供了一种老化测试方法，其包括以下步骤：加载老化软件包，该老化软件包包含针对待测设备的多个测试序列；基于老化软件包对待测设备中的一个或多个部件的每一个执行预定的开始迭代次数的测试；以及基于部件记录测试故障结果。

根据本发明另一方面，提供了一种老化测试系统，其包括：用于加载老化软件包的装置，该老化软件包包含针对待测设备的多个测试序列；用于基于老化软件包对待测设备中的一个或多个部件的每一个执行预定的开始迭代次数的测试的装置；以及用于基于部件记录测试故障结果的装置。

附图说明

根据以下参考附图对本发明特定实施例的详细描述，将很清楚本发明的前述和其他目的、特征和优点，在附图中：

图1图示了一般而言故障的“浴盆曲线”图；

图2图示了根据本发明的基于迭代和部件的老化测试的概要；

图3图示了根据本发明第一示例实施例的基于迭代和部件的老化测试方法的流程图；

图4图示了根据本发明第二示例实施例的基于迭代和部件的老化测试方法的流程图；

图5图示了根据本发明第三示例实施例的基于迭代和部件的老化测试方法的流程图；

图6图示了根据本发明的用于老化减少(Burn-in Reduction)的数据分析方法；以及

图7示出了故障曲线的示意图，其中，横轴表示迭代次数，左纵轴表示故障百分比，右纵轴表示累加故障数。

具体实施方式

下面将参考附图描述本发明的实施例。在这里的描述中，提供了诸如部件和/或方法的示例之类的许多具体细节，以帮助完整地理解本发明。但是，本领域技术人员将明了，在没有这些具体细节中的一个或多个的情况下或者在具有其它装置、系统、组件、方法、部件、材料、元件等的情况下也可以实现本发明的实施例。在其它情形中，没有详细示出或描述公知的结构、材料或操作，以不会模糊本发明的实施例的各个方面。在本说明书和附图中，相同标号表示具有基本相同功能的结构元件，并且将省略对它们的重复描述。

概要

下文中，将参考图2描述根据本发明的基于迭代和部件的老化测试的概要。

在开发和工程构建生命周期的所有阶段(包括Proto(样机)、工程验证测试(EVT)、设计验证测试(DVT)、产品验证测试(PVT)和量化生产)中都应当为产品设计老化测试处理并在可以获得PVT及之前的生产数据时对老化处理进行修改和优化。

本发明的老化测试(初始老化测试)被设计为对待测设备(DUT)的某一部件应用预定迭代次数的测试，以使得可以估计来料缺陷(incomingdefect)水平以及故障重复率并可以导出包括该部件的DUT的OQL(S202)。老化测试还使得可以执行校正动作以消除故障模式，从而确保在交付给顾客时DUT(或者包含该DUT的产品)具有适当的质量水平。