[发明专利]反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及对在面板中封入了垂直取向(VA，VerticalAlignment)模式的液晶(以下称为“VA”液晶)或者水平取向(IPS，In Plane Switching)模式的液晶(以下称为“IPS液晶”)的状态下的反射型液晶盒的倾角进行测定的方法以及装置。特别涉及在具有多畴(multi domain)结构的VA反射型液晶盒中，对该反射型液晶盒的倾角进行测定的方法以及装置。

背景技术

VA液晶盒的多畴结构是指，如图9所示，针对在对置的玻璃基板11、12之间注入了液晶的液晶盒的像素区域的每一个，在一个玻璃基板12上的取向膜的表面或基底设置突起状的结构物31，从而使处于像素内的各区域(称为畴)中的液晶分子a的取向按畴向各个方向倾斜的结构。

在电压截止时，各液晶分子a为了结构物31而相对于基板面按畴向各自不同的方向稍微倾斜(将该角度称为“倾角”，特别是在不施加电压时的倾角的意义下，也称为“预倾角”)。在施加了电压时，液晶分子大幅倒向预先倾斜的方向。由于按像素中的畴将该倒向的方向设定成各自不同的方向，所以得到视场角宽的优良的液晶显示器。

作为以往的VA液晶盒的预倾角测定方法，在液晶盒的两面配置了偏振镜以及检偏镜的状态下，从配置了偏振镜的一侧向液晶盒照射具有单一波长的光束。此时，一边将偏振镜以及检偏镜各自的透射轴相互维持为规定的角度(正交或平行)，一边使液晶盒在该液晶盒的明视方向上倾斜，从而对在各倾斜角下在检偏镜侧检测的液晶盒的透射光强度的视场依赖性进行测定，根据其对称点的角度来确定液晶分子的预倾角(所谓晶体旋转法)。

专利文献1：日本特开2008-58865号公报

专利文献2：国际公开第01/22029号文本

但是，在上述以往的方法中，由于一边改变液晶盒的角度一边多次测定液晶盒的透射光强度，所以测定花费时间。

另外，在具有多畴结构的液晶盒的情况下，在上述以往方法的光学系统中，抵消了各畴各自的倾斜，而仅能够测定平均的倾角。因此，如果希望按畴分别测定倾角，则需要使用显微光学系统使测定点对应于畴的大小。因此，需要精密的显微光学系统。

另外，以往不知以反射型液晶盒为对象的倾角测定方法以及装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种无需显微光学系统的反射型液晶盒的倾角测定方法以及装置，其无需改变角度，而仅测定一次反射型液晶盒的反射光强度即可。

以下，括号内的参照标号表示后述的发明的实施方式中的对应结构要素的参照标号，并不意味着通过这些参照标号来限定权利要求的范围。

本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法，从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光，以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的入射角(θ)的方式，对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光，根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，求出光强度反射率(R_c)，使用该光强度反射率(R_c)、液晶的正常光折射率(n_o)及异常光折射率(n_e)、入射角(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层的折射率(n_r)，求出液晶的倾角(β)。

根据该方法，能够将入射角(θ)设定为规定值而仅通过一次测定就求出液晶的倾角(β)。

如果反射型液晶盒(23)是在一个像素内包括多个畴(D)、液晶按畴(D)向不同的方向倾斜的反射型液晶盒(23)，则光强度反射率(R_c)优选包含反射型液晶盒(23)的所有畴的面积中的朝向倾角(β)不与光轴(B)平行的方向的畴的面积的比例作为系数(A)。通过考虑该系数(A)，在对反射型液晶盒(23)照射了光的范围内，不会抵消而能够求出朝向各自不同的方向的倾角(β)。

光强度反射率(R_c)能够通过将被反射型液晶盒(23)反射的光的与偏振分量正交的偏振分量中的光强度除以被反射型液晶盒(23)反射的原样的光的光强度而计算出。

另外，光强度反射率(R_c)也可以通过将被反射型液晶盒(23)反射的光的与偏振分量正交的偏振分量中的光强度，除以被反射型液晶盒(23)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度、和被反射型液晶盒(23)反射的光的与偏振分量平行的方向的偏振分量中的光强度的合计值而计算出。