[发明专利]太赫兹偏振实时成像的方法有效
| 申请号: | 201010126415.5 | 申请日: | 2010-03-16 | 
| 公开(公告)号: | CN101832940A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 | 
| 发明(设计)人: | 张岩 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 | 
| 主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01J3/447;G01N21/21 | 
| 代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;贺华廉 | 
| 地址: | 100037*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 赫兹 偏振 实时 成像 方法 | ||
1.一种太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将待测样品放入太赫兹偏振实时成像装置中;
(2)连续改变泵浦光和探测光的光程差,测量经过样品的太赫兹脉冲的一个偏振分量Ex;
(3)改变探测光的偏振态,再次连续改变泵浦光和探测光的光程差,测量太赫兹脉冲的另一偏振分量Ey;
(4)将样品的两组太赫兹偏振分量进行处理,并形成相对强度图像。
2.如权利要求1所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,步骤(2)(3)中所述的测量太赫兹脉冲的两个偏振分量为:测量太赫兹脉冲的水平偏振分量和竖直偏振分量。
3.如权利要求2所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,测量太赫兹脉冲的水平偏振分量和竖直偏振分量的方法为:测量被太赫兹脉冲的电场调制后的探测光在0度偏振时的偏振分量,得到太赫兹脉冲的水平偏振分量;测量被太赫兹脉冲的电场调制后的探测光在45度或-45度偏振时的偏振分量,得到太赫兹脉冲的竖直偏振分量。
4.如权利要求1所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,所述步骤(4)中相对强度图像的计算公式是(|Ex|-|Ey|)/(|Ex|+|Ey|)。
5.如权利要求1所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,所述步骤(1)中该待测样品紧贴实时成像装置中的探测晶体。
6.如权利要求1所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,所述泵浦光和探测光为同源激光。
7.如权利要求6所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,所述激光功率0.80W,脉冲宽度小于100fs。
8.如权利要求1所述的太赫兹偏振实时成像的方法,其特征在于,所述太赫兹偏振实时成像装置的光谱范围为0.2-2.5THz,信噪比>1000,动态范围大于5000∶1,光谱分辨率为16GHz。
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