[发明专利]触控面板及其差动辨识方法

说明书

技术领域

本发明是有关于触控面板，且特别是有关于一种触控面板的差动辨识方法。

背景技术

近来各式电子产品朝向操作简便、小体积以及大屏幕尺寸的方向发展。因此，许多电子产品都采用触控面板以省略键盘或是操控按键，进而使屏幕可配置的面积扩大。现今最常见的触控面板大致可区分为电阻式、电容式、红外线式及超音波式等触控面板。传统触控面板至少需要2片铟锡氧化物(Indium Tin Oxide，以下称ITO)膜，以分别测出X、Y方向的触碰位置。传统电容式触控面板的触控技术是利用在电容式触控面板ITO膜的四角连接电极，并且加入一定的电信号。待手指触碰电容式触控面板上的任一点时，手指会带走耦合在电容式触控面板上的电荷并使得四角连接电极的电流产生变化。电容式触控面板则可以利用侦测上述的四角连接电极上的能量变化差异来判断出触碰的行为与位置。然而，此传统电容式触控面板只能判断出单点的触碰行为。

发明内容

为了解决现有技术中电容式触控面板只能判断出单点的触碰行为的技术问题，有必要提供一种可以精确辨识出单点、两点甚至更多触碰点的坐标信息的触控面板的差动辨识方法。

同时提供一种可以精确辨识出单点、两点甚至更多触碰点的坐标信息的触控面板。

本发明提出一种触控面板的差动辨识方法。该触控面板沿第一轴向与第二轴向各自具有多个扫描电极与多个感测电极。该差动辨识方法包括下述步骤：在该多个扫描电极中选择第i个扫描电极，以提供一驱动信号到所述第i个扫描电极；在提供该驱动信号到所述第i个扫描电极的期间，感测该多个感测电极中第j个感测电极与相邻近的另一个感测电极的特征差值ΔC(i，j)，以及感测该多个感测电极中第k个感测电极与一参考特征值的特征差值ΔCi，前述i、j、k为整数；将触控面板的多个感测点中的一个基准感测点的特征值设定为一基准特征值；以及使用该基准特征值、该多个特征差值ΔCi与该多个特征差值ΔC(i，j)计算该多个感测点的特征值。

本发明提出一种触控面板，包括一第一导电层、一第二导电层、多个扫描电极、多个扫描电极以及一控制器。扫描电极沿第一轴向配置在第一导电层的一侧，而感测电极沿第二轴向配置在第二导电层的一侧。控制器于该多个扫描电极中选择第i个扫描电极，以提供驱动信号到所述第i个扫描电极。在提供驱动信号到所述第i个扫描电极的期间，该控制器感测该多个感测电极中第j个感测电极与相邻近的另一个感测电极的特征差值ΔC(i，j)，以及感测该多个感测电极中第k个感测电极与一参考特征值的特征差值ΔCi。该控制器将触控面板的多个感测点中的一个基准感测点的特征值设定为基准特征值。该控制器使用该基准特征值、该多个特征差值ΔCi与该多个特征差值ΔC(i，j)计算该多个感测点的特征值。

在本发明的一实施例中，上述的计算该触控面板的多个感测点的特征值的步骤包括：计算ΔC[i]＝ΔCi-ΔCi+1，其中ΔC[i]表示第i个与第i+1个扫描电极的特征差值；如果该基准感测点位于第j列，则使用该基准特征值计算C(i+1，j)＝C(i，j)+ΔC[i]或计算C(i-1，j)＝C(i，j)-ΔC[i]，其中C(i，j)表示该多个感测点中第i行第j列感测点的特征值；以及计算C(i，j+1)＝C(i，j)+ΔC(i，j)或计算C(i，j-1)＝C(i，j)-ΔC(i，j)。

在本发明的一实施例中，所述触控面板的差动辨识方法，进一步包括：计算第i条扫描线在所有感测点的特征值中最小特征值与该基准特征值的差值，作为一补偿值；以及依据该补偿值调整该第i条扫描线在所有感测点的特征值。

在本发明的一实施例中，所述触控面板的差动辨识方法，进一步包括：计算第i条扫描线在所有感测点的一平均特征值；计算该平均特征值与该基准特征值的差值，作为一补偿值；以及依据该补偿值调整该第i条扫描线在所有感测点的特征值。

在本发明的一实施例中，上述感测特征差值ΔCi的步骤包括：感测所述第k个感测电极与该触控面板的闲置感测电极的特征差值ΔCi。

在本发明的一实施例中，上述感测特征差值ΔCi的步骤包括：感测所述第k个感测电极与一参考电容器的特征差值ΔCi。

基于上述，本发明实施例所揭露的差动辨识方法采用全平面扫描方式，可以精确辨识出在触控面板上单点、两点甚至更多触碰点的坐标信息，且无鬼点问题。

为让本发明上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明实施例说明一种触控面板的功能模块示意图。