[发明专利]热式流量测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测流体的流量的热式流量测量装置，尤其涉及一种分流式的热式流量测量装置，其测量流动于副通路中的流体的流量，所述副通路吸收流动于主通路的流体的一部分。

背景技术

分流式的热式流量测量装置具有吸收流动于主通路中的流体的一部分的副通路，在副通路内设置传感器元件并测量流动于副通路中的流体的流量。

在作为内燃机系统的吸入空气流量测量装置采用分流式的热式流量测量装置的情况下，也要求精度良好地测量在吸气管内产生的逆流。因此，副通路需要为有效地吸收逆流的形状，使副通路的流出开口面(出口)与流入开口面(入口)同样在相对于主通路的流动(逆流)垂直的面(正交的面)上开口。

作为这样的分流式的热式流量测量装置，公知的是这样一种装置(例如，参照专利文献1的第4图)，副通路具有：弯曲的第一分区；测量通路，其与第一分区的内侧(内周侧)的范围连续设置，并配置有传感器元件(测量元件)；以及迂回通路，其与第一分区的外侧(外周侧)的范围连续设置，并绕过传感器元件。

在该装置中，在弯曲的第一分区中，利用惯性力(离心力)将污损传感器元件的污损物质(液滴、油滴)或破坏传感器元件的危险性高的灰尘类(固体粒子)驱逐到第一分区的外侧(外周侧)的范围，使污损物质或灰尘类物质流向与该范围连续的迂回通路，不使污损物质或灰尘类物质流入测量通路。

在上述装置中，副通路形成环(loop)，该环形成360度的角度。在副通路的流入开口面(入口)和流出开口面(出口)在相对于主通路的流动(逆流)垂直的面(正交的面)上开口的情况下，无法在同一平面上形成副通路整体。

公知这样一种热式流量测量装置(例如，参照专利文献2的图2、图4、图9)，其以在处于平行位置关系的两个平面上呈阶层构造的方式构成盘旋360度以上的涡旋状的副通路。

在该热式流量测量装置中，副通路具有：第一副通路，其在第一假想平面A上不交叉地呈涡旋状盘旋；第二副通路，其相对于第一假想平面A具有规定的偏置量，并被设置在处于与第一假想平面A平行的位置关系的第二假想平面B上；以及第三副通路，其在第一假想平面A和第二假想平面B之间延伸并连通连接第一副通路和第二副通路。并且，通过在盘旋360度以上的涡旋状的第一副通路的中途配置传感器元件，从而保护传感器元件不受飞来的水滴、污损物质的影响。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1：日本特表2002-506528号公报

专利文献2：日本特开2004-226315号公报

在热式流量测量装置中，希望相对于被测量流体的流动方向垂直的方向上的尺寸(厚度尺寸)小。即，希望装置形状为薄的形状。

在专利文献2的装置中，第一副通路和第二副通路以形成阶层的方式构成在具有规定的偏置量并处于平行的位置关系的第一假想平面A上和第二假想平面B上。在该阶层构造中重叠层的方向为相对于被测量流体的流动方向垂直的方向。因此，在副通路的阶层构造中重叠层的方向上的第一副通路的宽度和第二副通路的宽度成为决定热式流量测量装置的厚度方向尺寸的主要原因。此外，在该热式流量测量装置中，由于传感器元件配置于第一副通路，所以需要在第一副通路配置安装传感器元件的电路基板，第一副通路还需要有流过流体的测量所需流量的通路截面面积，由于第一副通路的厚度方向尺寸变大，所以成为副通路整体的厚度方向尺寸变大的原因。

此外，安装有传感器元件的电路基板的、与传感器元件安装面相反一侧的面(背面)被配置在与第一副通路的通路壁面大致接触的位置，在传感器元件的上部确保大的通路截面，从而确保流量。但是，在这样的构造中，由于通过第一副通路的弯曲通路的作用无法除去的污损物质(液滴、油滴)、灰尘类(固体粒子)物质在传感器元件的上部流动，所以存在传感器元件的保护不充分的可能性。

此外，通过在曲线部配置传感器元件，流动发生偏离，在测量精度的提高上存在界限。

即使在专利文献1的装置中也同样具有上述问题。

发明内容

本发明的第一目的在于提供一种热式流量测量装置，其具有弯曲的副通路，且厚度方向尺寸小。本发明的第二目的在于提供一种热式流量测量装置，其具有降低在传感器元件上附着或者碰撞的污损物质、灰尘类物质的弯曲的副通路，并且相对于不能由弯曲的副通路除去的污损物质、灰尘类物质提高了传感器元件的保护效果。本发明的第三目的在于提供一种热式流量测量装置，其具有弯曲的副通路，流动相对于传感器元件的偏离少，可以提高测量精度。