[发明专利]一种确定高加速应力筛选试验条件的方法

说明书

技术领域

本发明涉及硬件电路板的测试方法，具体涉及一种确定高加速应力筛选试验条件的方法。

背景技术

随着电子产品的广泛应用，人们对电子产品的品质要求也日益提高，电子产品的寿命已经成为产品质量优劣的一个重要标准。然而，产品在制造过程中，由于材料的缺陷、工艺的失控、设备的不稳定等相关客观因素制约，不可避免的导致了部分电子产品出厂时就存在着潜在的非设计性缺陷，而产品出厂后潜在的缺陷会逐步暴露并导致产品快速失效，产品寿命极大缩短。

产品到市场后出现的故障分布可用工业生产中常用的“浴盆曲线”表示。处于“浴盆曲线”前端的是“早夭失效期”，在这个阶段的初期产品失效率较高，并随着时间的增加产品失效率逐渐下降。当一个属于“早夭失效期”的部件产品组装在复杂的系统中时，将导致系统的早期失效率急剧增加，因此在系统组装之前，就必须设法将处于“早夭失效期”的电子部件或模块尽可能的剔除，保证产品的使用寿命。

可靠性应力筛选试验就是在这样的背景下产生，顾名思义，可靠性应力筛选试验就是人为对产品施加外来环境工作应力，使处于“早夭失效期”的产品尽可能早的暴露出来，然后利用相关检验或测试方法，将这些有瑕疵的产品予以剔除，提高交货产品的可靠性。可靠性应力筛选试验的方法一般包括以下步骤：首先，在产品的工作极限范围内，进行5℃/min的温变循环试验，并在高低温各保持一段时间，一次循环的时间为3-4个小时，试验的总时间40小时；然后，再进行随机振动筛选试验，功率谱密度设定为0.04g²/Hz，试验时间为5min，如军标GJB 1032-1990所述；最后，根据得到的结果判断产品的好坏。但这种方法存在着以下缺点：

第一，产品筛选试验所需的周期长，一般需要2-3天的时间；

第二，工作效率低，极大的制约了制造厂家的产能；

第三，占用大量设备，人力费用高，造成过高的生产成本，降低产品竞争力。

随着社会对电子产品需求的急剧膨胀，电子公司产能也日益扩张，环境筛选试验周期长、效率低、费用高等缺点严重延滞电子产品的推向市场的时间，制约了电子制造业公司发展。

发明内容

针对上述可靠性应力筛选试验存在的技术问题，本发明提供了一种利用温度及振动综合应力可靠性试验，准确得到硬件电路板高加速应力筛选试验条件的方法。利用本发明得到的试验条件，可以快捷、高效、低成本的实现硬件电路板的高加速应力筛选试验，将有潜在缺陷的不良品提前筛选出来。

一种确定高加速应力筛选试验条件的方法，通过高加速寿命试验的方法得到产品的温度及振动综合应力的操作极限和破坏极限、快速温变传导操作极限，包括以下步骤：

参考温度及振动综合应力的操作极限和破坏极限、快速温变传导操作极限，设置起始试验条件进行快速温变循环的温度及振动综合应力测试；

在温度及振动稳定阶段进行至少一次功能测试，判断被测产品是否有故障，当有故障出现时，执行下一个步骤；

分析判断故障出现的原因，当因被测产品自身的质量引起时，则表示目前试验条件有效；

准备至少三个试验样品，在每个样品上制作一些非标准工艺制造的典型缺陷，以上一个步骤得到的有效试验条件进行温度及振动综合应力测试各个试验样品；

在温度及振动稳定阶段进行至少一次功能测试，并观察样品上的人造缺陷是否能被检测出来，当能检测到缺陷时，则说明目前试验条件有效；

用至少三个全新产品作样品，以上一个步骤得到的有效试验条件进行至少三次重复测试，在温度及振动稳定阶段进行至少一次功能测试并观察全新样品是否有故障出现，当未发生因应力不当而引起故障时，则确定当前条件为高加速应力筛选的试验条件。