[发明专利]包含有双缓冲器的电子器件分选机

说明书

技术领域

本发明涉及用于测试电子元件如发光二极管和其后根据电子元 件的特性分类该电子器件的方法和装置。

背景技术

发光二极管(LED：Light Emitting Diode)是一种显示和发光技 术，由于，LED和传统的白炽灯泡(incandescent light bulbs)与 相比使用较少的能量、具有较长的寿命和产生较少的热量，以及发出 彩色光线，所以其被广泛地使用于上市的电气和电子产品上。在装配 LED之后，在根据其确定的特性进行分类以前测试每个LED以确定其 光学和电气属性。由于所装配的LED的特性变化很大，所以复杂的分 类系统被用来将装配后的LED进行分类和分离。

在传统的LED的测试和分类系统中，LED从装载器(onloader) 如盘式送料机(bowl feeder)或晶圆框架(wafer frame)处被装载 于测试系统上。通过进行诸如光学和电学测试之类的测试来获得LED 的特性。测试之后，LED被分类进入卸载器，其可能是料仓箱(bin box)或晶圆框架的形式。当晶圆框架被用作为装载器或卸载器时， LED的测试和分类通常构成独立的测试和分类系统。装载器晶圆框架 上的LED被传送到测试系统进行测试。测试之后，根据输出晶圆框架 上的笛卡尔(Cartesian)或xy坐标测试映射图(test map)将LED 装入输出晶圆框架上。图1所示为用于接收LED的传统LED测试系统 的晶圆框架100的立体示意图，其中根据示范性的笛卡尔坐标测试映 射图102将LED定位。装载有测试后LED的晶圆框架被堆放于料盒 (magazine)中。每个装载后的晶圆框架从料盒处被传送到分类系 统，以便于在LED被卸载在指定的输出晶圆框架以前，根据给定的笛 卡尔坐标测试映射图将LED分类，每个输出晶圆框架被认为等同于具 有期望的料斗特性(binning characteristic)。合适可分类的输出料斗 特性的数量通常由包含于卸载器中的晶圆框架料盒的数量所限制。

在传统的分类系统中，一次仅仅能将一个LED卸载，仅仅一个卸 载平台是可实施的。由于仅仅存在一个卸载平台，一旦具有期望特性 的所有LED被装载在指定的输出晶圆框架上，那么分类处理必须停止 以便于输出晶圆框架能够得以移走而另一个指定的输出晶圆框架，如 具有不同料斗特性的输出晶圆框架在分类继续以前被设置。这样引入 了晶圆交换的时间，在此时分类处理被停止，而该LED分类系统的这 种空闲时间导致了分类LED时产能降低。所以，在前一个输出晶圆框 架被移走的同时，分类操作能够被允许在输出晶圆框架上继续，这是 令人期望的。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种用于分类电子元件的装置和方 法，以和上述的传统分类系统相比较，实现更高的整体产能。

于是，本发明一方面提供一种用于测试和分类电子器件的器件分 选机，该器件分选机包含有：测试平台，其用于测试电子器件和根据 不同的料斗特性将其分类；缓冲器组件，其用于接收在测试平台处已 被分类的电子器件，该缓冲器组件还包含有具有多个容器的第一装载 区和具有多个容器的第二装载区；以及输出平台，其用于根据电子器 件不同的料斗特性从缓冲器组件的第一装载区或第二装载区中的任 一个处卸载电子器件进行存放，同时电子器件正被装载到第一装载区 或第二装载区中的另一个处。

本发明另一方面提供一种用于测试和分类电子器件的方法，该方 法包含有以下步骤：在测试平台处测试电子器件，并根据不同的料斗 特性将其分类；将在测试平台处已被分类的电子器件装载在包含于缓 冲器组件的第一装载区中的容器上；其后根据电子器件的料斗特性从 缓冲器组件的第一装载区卸载电子器件到输出平台进行存放，同时将 在测试平台处已被分类的更多的电子器件装载在包含于缓冲器组件 的第二装载区中的容器上。

参阅后附的描述本发明实施例的附图，随后来详细描述本发明是 很方便的。附图和相关的描述不能理解成是对本发明的限制，本发明 的特点限定在权利要求书中。

附图说明

根据本发明所述的系统和方法的较佳实施例的示例现将参考附 图加以详细描述，其中：

图1所示为用于接收LED的传统LED测试系统的晶圆框架的立体 示意图，其中根据示范性的笛卡尔坐标测试映射图将LED定位。