[发明专利]用于太阳电池防护涂层光学性能原位测试的光度计无效

专利信息
申请号: 201010107515.3 申请日: 2010-02-05
公开(公告)号: CN101788476A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 赵慧洁;张颖;唐吾;邢辉;张庆祥;王立 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 太阳电池 防护 涂层 光学 性能 原位 测试 光度计
【权利要求书】:

1.一种用于太阳电池防护涂层性能原位测试的光度计,其特征在于:包括外壳(1)、防辐射玻璃盖片(2)、太阳电池防护涂层(3)、玻璃盖片固定件(4)、三结点太阳电池(5)、热探测器(6)、数据采集底座(7),

其中,外壳(1)装载和保护其它的器件;该外壳固定于数据采集底座(7)上;

涂覆有太阳电池防护涂层(3)的防辐射玻璃盖片(2)被玻璃盖片固定件(4)固定在外壳(1)上,它们与三结点太阳电池组成测量通道;

用玻璃盖片固定件(4)固定住的另一块同型号的防辐射玻璃盖片(2)与另一个同型号的三结点太阳电池(5)组成参考通道;

热探测器(6)紧贴参考通道的三结点太阳电池(5);

数据采集底座(7)内置信号采集板卡;

采用双通道设计以实现比对测量,测量通道与参考通道内的玻璃盖片(2)和三结点太阳电池(5)的型号相同,并且放置的位置对称;

所述外壳(1)材料选择航天用铝合金,其表面经过阳极氧化处理;

在防辐射玻璃盖片(2)上涂覆有紫外/红外线带通滤光膜;

用于固定玻璃盖片(2)的玻璃盖片固定件(4)由长方形的凹槽(41)和覆盖片(42)组成。

2.根据权利要求1所述的用于太阳电池防护涂层性能原位测试的光度计,其特征在于:热探测器(6)采用薄膜热探测器。 

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