[发明专利]被动背板的测试模块及其测试被动背板的方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试模块，特别是有关于一种被动背板的测试模块及其测试被动背板的方法。

背景技术

由于高速周边组件联系(Peripheral Component Interconnect Express，PCIExpress后称PCI-E)扩充背板为一被动组件，需要外来的电源及启动信号，才可被初始化以进行工作，因此，传统对PCI-E扩充背板(raiser card)进行功能测试时，必须搭配一刀锋服务器同时进行，使得PCI-E扩充背板经连接至刀锋服务器后，而可被开机后的刀锋服务器唤醒。刀锋服务器便对PCI-E扩充背板进行电源、信号及协议功能的测试，才可得知此PCI-E扩充背板是否合格。

然而，利用刀锋服务器来对PCI-E扩充背板进行功能测试时，存在以下缺点：

1.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时，存在着大量的人机交互测试工作，不仅效率低，也常因为人为判断的误差而造成测试失败。

2.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时，需配合刀锋服务器的启动，将拉长PCI-E扩充背板的测试时间，进而影响生产成本及产品质量。

3.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时，由于刀锋服务器相当昂贵，要额外取得一专为测试用的刀锋服务器，将提高硬件取得成本。

如此，如何研发出一种测试模块，可克服上述种种不便及缺点，实乃相关业者目前刻不容缓的一重要课题。

发明内容

有鉴于此，本发明的一目的是揭露一种被动背板的测试模块，不需搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试，使得降低人机交互测试工作机会、PCI-E扩充背板的测试时间及刀锋服务器的硬件取得成本。

这种被动背板的测试模块在一实施方式中包括一电路板、一第一连接单元及一第二连接单元。第一连接单元位于电路板上，活动地连接一被动背板。第二连接单元位于电路板上，活动地连接一监控装置。微处理单元位于电路板上，电性连接第一连接单元与第二连接单元，具一通用输入输出接口、一程序化输入输出接口及一全系统管理总线接口。当微处理单元对被动背板进行测试时，微处理单元通过通用输入输出接口对被动背板提供电源、通过程序化输入输出接口对被动背板进行初始化、通过全系统管理总线接口对被动背板进行测试，以及通过第二连接单元回馈一测试结果至监控装置。

本发明的另一目的是揭露一种测试被动背板的方法，应用于一被动背板的测试模块。此测试模块连接一PCI-E扩充卡及一计算机装置。此方法包括自计算机装置取得一测试内容韧体、依据测试韧体数据，通过一通用输入输出接口提供电源至PCI-E扩充卡、依据测试韧体数据，通过一程序化输入输出接口对PCI-E扩充卡进行初始化、依据测试韧体数据，通过通用输入输出接口检测PCI-E扩充卡上的多个测试发光二极管组件、依据测试韧体数据，通过通用输入输出接口设定PCI-E扩充卡上的多个PCI-E装置的规格、依据测试韧体数据，通过一全系统管理总线接口测试PCI-E扩充卡，以及回馈一测试结果至计算机装置。

综上所述，本发明被动背板的测试模块及其测试被动背板的方法不需搭配主动式计算机，即可对PCI-E扩充背板进行测试。如此，本发明具有以下优点：

1.简化了搭配刀锋服务器与PCI-E扩充背板间的人机交互测试工作，进而提高效率，也降低人为判断的误差而造成测试失败的机率。

2.缩短了对PCI-E扩充背板进行功能测试的测试时间，进而改善生产成本及产品质量。

3.节省了取得刀锋服务器所需的硬件取得成本。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的详细说明如下：

图1绘示本发明被动背板的测试模块于一实施例下的方块示意图；

图2绘示本发明被动背板的测试模块于另一实施例下的方块示意图；

图3绘示本发明测试被动背板的方法于另一实施例下的流程图。

【主要组件符号说明】

100：被动背板            310：第四连接单元

110：第三连接单元        400：PCI-E扩充背板

200：测试模块            410：电压调节模块

210：电路板              420：工作电路

220：第一连接单元        430：测试LED组件

230：第二连接单元        440：放大电路