[发明专利]实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算和显示的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种实现背景值计算和显示方法，特别是涉及一种实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算和显示方法。

背景技术

本领域人士众所周知，塞曼背景校正是一种优良的背景校正方法。样品光束测量总吸收信号，参考光束测量背景信号，两者相减得到净原子吸收信号。通常塞曼背景校正的仪器显示两者相减后的净原子吸收信号和背景信号，因为背景信号作为基体的信息而作为分析结果的参考。

然而实际上所显示的背景值并不是真正的背景值，其原因是无论采用交变磁场和恒定磁场在测量获得的参考道吸光度中包含着原子吸收信号，它们都是σ成分的吸收。也就是说参考到信号是背景吸收与σ成分的吸收之和。

鉴于塞曼背景校正中无论是交变磁场还是恒定磁场，只要在分析过程中磁场强度保持不变，参考道中的原子吸收即σ成分的吸收与样品道中的原子吸收(对应于恒定磁场的是∏成分吸收；对应于交变磁场的是总原子吸收)具有极其恒定的关系。因此可以利用这一点，即：在进行标准曲线测量时，同时对σ成分的吸收进行曲线拟合，在计算参考道吸光度时同时减去对应样品的σ成分的吸收，这样可以使显示的参考道信号为真正的背景吸收。

发明内容

针对上述问题，本发明的主要目的在于提供一种实现塞曼背景校正原子吸收的一种背景值计算的方法，与普通的实现塞曼背景校正原子吸收的一种背景值计算的方法相比，本发明在塞曼背景校正原子吸收中准确计算和显示真实背景吸收值，提供更为准确的分析信息。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

一、计算真实背景值的原理

因为参考道吸收信号为样品的真实背景吸收与原子吸收中σ成分的吸收之和，且σ成分的吸收与样品道中的原子吸收具有极其恒定的关系，所以我们可以用标准样品(真实背景值为0)测量时的参考道信号作为原子吸收中σ成分，作为样品测量时相应的σ成分，从而获得真实背景值。

具体我们可以在标准样品系列测量后，利用校正曲线中的参考道信号A_ref和样品道信号A_sam数据(A_sam＝A_total(std)-A_ref(std))，拟合出参考道信号A_ref和样品道信号A_sam数据之间的关系表达式A_ref＝F₂(A_sam)，这时的A_ref为原子吸收中σ成分Aσ；在样品测定时，真实背景值为参考道信号A_ref和由F₂(A_sam)计算得出的Aσ的差，即A_bkg＝A_ref-F₂(A_total-A_ref)。

二、计算真实背景值包括如下步骤：

(1).建立校正曲线

1.测量每一个标准样品的样品的总吸收信号A_total(std)；参考道信号A_ref(std)

2.计算每一个测量点的样品道信号A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

3.拟合出浓度C和样品道信号A_sam曲线方程：

C＝F₁(A_sam)，这里F₁表示函数关系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

4.拟合出原子吸收中σ成分Aσ和样品道信号A_sam曲线方程：

Aσ＝A_ref＝F₂(A_sam)，这里F₂表示函数关系，A_sam＝A_total(std)-A_ref(std)

(2).在测量实际样品时，扣除原子吸收中σ成分Aσ：

1.测量每一个样品的样品的总吸收信号A_total；参考道信号A_ref

2.计算每一个测量点的样品道信号A_sam＝A_total-A_ref