[发明专利]地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法

权利要求书

1.一种地表粗糙度测量装置，其特征在于，该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置，

所述处理装置用于所述测量装置的系统控制，获得所述测距装置的测量数据，

所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置，由所述处理装置控制所述移动装置移动，以调整所述测距装置的姿势，

所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离，并且将测得数据传输至所述处理装置，

所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置，用于将所述测距装置置于预定高度。

2.根据权利要求1所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述处理装置可以根据所述测距装置的高度信息，测量角度信息及所述测距装置测得的距离信息计算出地表的粗糙度。

3.根据权利要求1或2所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括显示装置及输入装置，操作者能够经由所述输入装置输入信息，由所述处理装置根据该输入信息控制所述测距装置的测量角度，所述显示装置用于显示测得的数据和/或计算出的地表粗糙度结果。

4.根据权利要求3所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述处理装置为单片机控制系统，所述单片机控制系统包括中央处理器、用于存储程序和数据的数据存储器、用于与外部处理装置连接的接口。

5.根据权利要求3所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述测距装置为激光测距传感器。

6.根据权利要求3所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述移动装置为步进电机，所述步进电机接至驱动模块，该驱动模块被连接至所述处理装置的中央处理器，由所述中央处理器经由所述驱动模块驱动所述步进电极。

7.根据权利要求6所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述步进电极使用电机转动角度细分控制技术调整所述测距装置的姿势。

8.根据权利要求3所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述支撑装置的高度能够调节，从而调节所述测距装置距地表的距离。

9.根据权利要求8所述的地表粗糙度测量装置，其特征在于，所述支撑装置能够安装至所述测量装置的主体，也能够从所述测量装置的主体拆卸。

10.一种地表粗糙度测量方法，其特征在于，所述测量方法使用权利要求1至9所述的测量装置，并且所述测量方法包括如下步骤：

由所述支撑装置将所述测量装置的测量装置主体支撑至预定姿势，

由所述支撑装置确定或者由所述测距装置测定所述测距装置距地表的距离，

由所述处理装置控制所述移动装置使所述测距装置处于期望的姿势，

由所述测距装置在所述期望的姿势下测量距地表的距离，

由所述处理装置根据获得的数据计算并显示地表粗糙度。