[发明专利]温度传感器温度特性的检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及传感器温度特性的检测装置及检测方法，尤其涉及温度传感器温度特性的检测装置及检测方法，既用于全面了解与研究温度传感器的温度特性，又能用于电学实验教学。 

背景技术

传感器技术是信息技术的三大支柱之一，在各领域起着重要的作用，在传感器中，温度传感器在自动检测及控制系统中有着广泛的应用。温度传感器种类繁多，有热敏电阻传感器、铂电阻传感器、pn结传感器及金属丝热电阻传感器等，因此，对温度传感器温度特性的全面了解与研究，对研究传感器技术，学好传感器技术有很重要的意义。 

对温度传感器技术的了解与研究主要涉及检测温度传感器的温度特性，现有技术的检测方法一般是：待测的温度传感器安装在一个耗能120W的加热容器里，给加热容器装入水后通电升温，通过观察玻璃液体温度计人为控温，在升温过程中还需人为不停搅拌该加热容器内的水使其加热容器内的水温均匀，温度升至所需检测点后关断电源，加热容器停止加温，再通过操作一台电桥仪器检测加热容器内的单个待测的温度传感器对应其温度的阻值，然后再给加热容器通电升温至下一个检测点，检测该待测的温度传感器随温度上升而相应变化的其阻值，就这样周而复始通过操作一台电桥仪器分别测出待测的温度传感器对应加热容器从低温至高温段的变化其阻值相应变化的若干组有关数据，或加热容器温度升至所需温度，然后降温，再通过操作一台电桥仪器分别测出该待测的温度传感器随温度下降其阻值相应变化的 若干组有关数据，最后利用所测数据分析该待测的温度传感器的温度特性。若还要检测另一个待测的温度传感器，倒掉加热容器内的热水，重装冷水，把另一待测的温度传感器浸泡在冷水中，用同样方法检测之。这样的检测方法缺陷是：(1)不易保证加热容器在所需检测点恒温，造成检测仪器检测时显示的数据不能稳定；(2)浸泡在加热容器内的待测的温度传感器若绝缘不好易导致待测的温度传感器引线脚间短路，造成检测数据误差大。所以这些缺陷给其检测带来了难度，往往要反复做好几遍其实验才能勉强获取所需数据。尤其是对温度变化敏感性强的待测的热敏电阻传感器，就更不易检测到理想的数据，并且该实验检测过程烦琐，因而检测时间长，耗能大。 

经检索国内外现有文献，尚未发现与本发明最接近的现有文献。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种温度传感器温度特性的检测装置及检测方法，以便检测温度传感器的温度特性，使其对温度传感器技术的了解更为直观和简捷，并提高待测的温度传感器的温度特性有关参数检测的精度，同时，与现有技术相比，本发明有节能减排的作用。 

为了实现上述发明的目的，其技术方案是： 

温度传感器温度特性的检测装置包括量程为0-20KΩ数字式欧姆表I，量程为0-20KΩ数字式欧姆表II，量程为0-200KΩ数字式欧姆表III，接插器XP1/XS1～XP4/XS4及面板，功率为20-30W的加热炉IV，温度控制仪V，数字式欧姆表供电电路；该装置还包括专业厂家生产的待测的温度传感器A、温度传感器B、温度传感器C及温度控制仪V控制加热炉IV炉温用的铂电阻传感器的标准件；在图1中，主部件加热炉IV组装件明细如表1所示：

表1 

数字式欧姆表I，数字式欧姆表II，数字式欧姆表III分别装在面板上，面板装于箱体内；